高效率、同步多相开关控制器的研究与设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 课题的发展现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| 1.2 课题的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.3 论文主要工作和章节安排 | 第11-12页 |
| 第二章 DC-DC变换器的功率损耗分析 | 第12-29页 |
| 2.1 导通损耗 | 第12-13页 |
| 2.2 开关过程交越损耗 | 第13-26页 |
| 2.2.1 模型的分析方法 | 第13-15页 |
| 2.2.2 模型的建立 | 第15-25页 |
| 2.2.3 模型的验证 | 第25-26页 |
| 2.3 功率管的栅极驱动损耗 | 第26-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 提高DC-DC变换器效率的技术研究 | 第29-45页 |
| 3.1 DCR检测技术 | 第29-33页 |
| 3.1.1 利用小电阻电流采样 | 第29-30页 |
| 3.1.2 电感DCR采样 | 第30-33页 |
| 3.2 低ESR损耗多相位技术 | 第33-38页 |
| 3.2.1 多相位输出纹波电流和纹波电压 | 第34-36页 |
| 3.2.2 多相位输入电容RMS电流 | 第36-37页 |
| 3.2.3 多相位连接图 | 第37-38页 |
| 3.3 同步整流技术 | 第38-42页 |
| 3.4 低阻抗栅极驱动技术 | 第42-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 芯片子模块电路的设计与仿真 | 第45-78页 |
| 4.1 基准电路 | 第45-60页 |
| 4.1.1 带隙基准原理 | 第45-46页 |
| 4.1.2 高性能带隙基准电路设计 | 第46-58页 |
| 4.1.3 仿真结果与分析 | 第58-60页 |
| 4.2 片内次级电源 | 第60-66页 |
| 4.2.1 迟滞电路的设计 | 第60-61页 |
| 4.2.2 LDO_VIN模块设计 | 第61-62页 |
| 4.2.3 LDO_EXTVCC模块设计 | 第62-64页 |
| 4.2.4 仿真结果与分析 | 第64-66页 |
| 4.3 振荡器电路 | 第66-70页 |
| 4.3.1 RC张弛振荡器 | 第66-68页 |
| 4.3.2 多相位时钟产生电路 | 第68-69页 |
| 4.3.3 仿真结果与分析 | 第69-70页 |
| 4.4 栅极驱动电路 | 第70-77页 |
| 4.4.1 自举电路设计 | 第71-73页 |
| 4.4.2 驱动器等效电阻的计算 | 第73-74页 |
| 4.4.3 非交叠时钟产生电路 | 第74-75页 |
| 4.4.4 死区时间控制电路 | 第75页 |
| 4.4.5 仿真结果与分析 | 第75-77页 |
| 4.5 本章小结 | 第77-78页 |
| 第五章 芯片总体仿真 | 第78-90页 |
| 5.1 芯片整体架构设计 | 第78-79页 |
| 5.2 芯片总体仿真拓扑 | 第79-80页 |
| 5.3 系统仿真结果与分析 | 第80-85页 |
| 5.3.1 输入电容RMS电流仿真 | 第80-81页 |
| 5.3.2 DCR检测与电阻检测效率比较 | 第81页 |
| 5.3.3 开关过程功率损耗仿真 | 第81-82页 |
| 5.3.4 输入电压线性调整率仿真 | 第82-83页 |
| 5.3.5 输出负载调整率仿真 | 第83-84页 |
| 5.3.6 输出电压软启动及输出纹波仿真 | 第84-85页 |
| 5.4 转换器的效率 | 第85-89页 |
| 5.5 本章小结 | 第89-90页 |
| 第六章 总结 | 第90-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 参考文献 | 第92-94页 |
| 攻硕期间的研究成果 | 第94-95页 |
