| 中文摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-21页 |
| 1.1 显微差分反射光谱检测方法概述 | 第8-13页 |
| 1.2 显微差分反射光谱检测方法的特点 | 第13-16页 |
| 1.3 差分反射光谱检测方法在有机半导体薄膜研究中的应用 | 第16-19页 |
| 1.3.1 有机半导体材料及有机薄膜器件概述 | 第16-17页 |
| 1.3.2 MDRS 在有机薄膜研究中的应用和意义 | 第17-19页 |
| 1.4 课题研究背景及论文主要内容 | 第19-21页 |
| 第2章 显微差分反射光谱检测理论研究 | 第21-42页 |
| 2.1 显微差分反射光谱检测基本原理 | 第21-22页 |
| 2.2 显微差分反射光谱检测物理模型、模型简化和讨论 | 第22-33页 |
| 2.2.1 三相模型的计算方法 | 第22-31页 |
| 2.2.2 多相模型的计算方法 | 第31-33页 |
| 2.3 亚单层模型及其特点 | 第33-34页 |
| 2.4 薄膜光学常数求解算法 | 第34-41页 |
| 2.4.1 光学常数计算数学原理 | 第34-36页 |
| 2.4.2 光学常数计算方法实现 | 第36-38页 |
| 2.4.3 三相模型光学常数求解算法的简化 | 第38-41页 |
| 2.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 有机薄膜光学检测物理学原理 | 第42-54页 |
| 3.1 有机薄膜结构的形成与特点 | 第42-44页 |
| 3.2 有机薄膜结构的解离 | 第44-48页 |
| 3.3 自由有机分子光学特性 | 第48-50页 |
| 3.4 有机薄膜光学特性 | 第50-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-54页 |
| 第4章 显微差分反射光谱仪实验系统设计 | 第54-88页 |
| 4.1 仪器整体设计 | 第54-55页 |
| 4.2 光学测量系统与器件选择 | 第55-68页 |
| 4.2.1 真空环境光学结构 | 第56-58页 |
| 4.2.2 光源 | 第58-60页 |
| 4.2.3 大气环境下的光学结构 | 第60-65页 |
| 4.2.4 光电探测器 | 第65-68页 |
| 4.3 操作软件设计 | 第68-74页 |
| 4.4 仪器测量误差分析及补偿方法研究 | 第74-83页 |
| 4.4.1 仪器测量误差理论分析 | 第74-77页 |
| 4.4.2 仪器测试误差补偿方法 | 第77-83页 |
| 4.5 测量中的伪信号分析及其补偿方法研究 | 第83-87页 |
| 4.6 本章小结 | 第87-88页 |
| 第5章 实验研究 | 第88-114页 |
| 5.1 实验研究总述 | 第88-89页 |
| 5.2 有机/绝缘材料界面系统实验研究 | 第89-103页 |
| 5.3 有机/金属材料界面系统实验研究 | 第103-110页 |
| 5.4 显微差分反射光谱检测技术的应用方式和特点 | 第110-112页 |
| 5.5 本章小结 | 第112-114页 |
| 第6章 总结与展望 | 第114-117页 |
| 6.1 论文完成的主要工作 | 第114-115页 |
| 6.2 论文创新点 | 第115页 |
| 6.3 工作展望 | 第115-117页 |
| 参考文献 | 第117-126页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第126-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
