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基于瑞利波的材料表面缺陷深度检测数值研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5-6页
第1章 绪论第10-17页
    1.1 课题来源及研究的目的和意义第10-11页
        1.1.1 课题来源第10页
        1.1.2 研究的目的和意义第10-11页
    1.2 国内外研究现状第11-15页
        1.2.1 瑞利波研究现状第11-12页
        1.2.2 瑞利波检测表面缺陷研究现状第12-13页
        1.2.3 瑞利波数值模拟研究现状第13-14页
        1.2.4 文献综述第14-15页
    1.3 课题研究内容和研究方案第15-17页
第2章 瑞利波场的数值模拟第17-31页
    2.1 引言第17页
    2.2 各向均匀半空间体中的瑞利波第17-18页
        2.2.1 瑞利波的介绍第17页
        2.2.2 瑞利波波动方程第17-18页
    2.3 瑞利波波速的延时方法第18-20页
        2.3.1 互相关法求取瑞利波延时第18页
        2.3.2 HHT时频法求取瑞利波延时第18-20页
        2.3.3 特征点法求取瑞利波延时第20页
    2.4 ANSYS瞬态动力学分析原理第20页
    2.5 ANSYS模拟瑞利波参数设置第20-25页
        2.5.1 单元尺寸第20-22页
        2.5.2 积分时间步长第22页
        2.5.3 有限元模型边界处理第22-23页
        2.5.4 激励源信号的选择第23-24页
        2.5.5 阻尼的设置第24-25页
    2.6 垂直动荷载下波场模拟第25-26页
    2.7 瑞利波在表面缺陷处的传播数值模拟第26-30页
        2.7.1 表面缺陷的数值模拟第26-27页
        2.7.2 波长大于表面缺陷深度的情况第27-28页
        2.7.3 波长小于表面缺陷深度的情况第28-29页
        2.7.4 传播规律的进一步分析第29-30页
    2.8 本章小结第30-31页
第3章 瑞利波幅值衰减法数值研究第31-45页
    3.1 引言第31页
    3.2 瑞利波幅值衰减法检测原理第31-34页
        3.2.1 幅值衰减法原理第31-32页
        3.2.2 幅值衰减法操作流程第32页
        3.2.3 需要考虑的几个因素第32页
        3.2.4 数据程序化处理过程第32-34页
    3.3 瑞利波波速的确定第34-37页
        3.3.1 瑞利波波速的数值计算第34-35页
        3.3.2 瑞利波速的一元线性拟合第35-37页
    3.4 阻尼和几何扩散衰减的有参考消除第37-38页
    3.5 合理布置位置的确定第38-41页
        3.5.1 激励源位置的确定第38-39页
        3.5.2 观测点位置的确定第39-40页
        3.5.3 合理布置讨论的说明第40-41页
    3.6 合理布置下传递系数曲线的计算第41-43页
        3.6.1 传递系数曲线的计算第41-43页
        3.6.2 与理论解的对比第43页
    3.7 本章小结第43-45页
第4章 瑞利波传播时间法数值研究第45-66页
    4.1 引言第45页
    4.2 瑞利波传播时间法检测原理第45-48页
        4.2.1 表面缺陷处不同波的衍射与模式转换第45-46页
        4.2.2 不同应力波的传播时间比较第46-48页
        4.2.3 表面缺陷深度的理论计算第48页
    4.3 波速及激励源滞后时间确定第48-50页
    4.4 不同深度表面缺陷的计算第50-52页
    4.5 各种影响因素的讨论第52-58页
        4.5.1 激励频率的影响第52-55页
        4.5.2 激励源和观测点位置的影响第55-56页
        4.5.3 实际边界的影响第56-58页
    4.6 表面缺陷定位讨论第58-61页
        4.6.1 倒数三个波包传播路径确定第58-60页
        4.6.2 表面缺陷定位计算第60-61页
    4.7 与他人方法的对比第61-64页
    4.8 本章小节第64-66页
第5章 瑞利波频率阻隔法数值研究第66-80页
    5.1 引言第66页
    5.2 瑞利波频率阻隔法检测原理第66-70页
        5.2.1 频率阻隔法原理第66-67页
        5.2.2 表面缺陷后波形分析第67-70页
    5.3 不同深度表面缺陷检测的数值模拟第70-77页
        5.3.1 不同深度表面缺陷的计算第70-74页
        5.3.2 临界频率的确定第74-75页
        5.3.3 临界频率与深度的拟合第75-77页
    5.4 有效的激励频率范围第77-79页
    5.5 本章小结第79-80页
结论第80-82页
参考文献第82-87页
附录A合理布置位置的进一步讨论第87-89页
附录B不同激励频率计算波形图第89-109页
致谢第109页

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