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高亮回转表面缺陷识别方法的研究

摘要第3-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第9-25页
    1.1 课题研究背景和意义第9-10页
    1.2 高亮回转表面缺陷检测技术与视觉检测的研究及发展综述第10-12页
        1.2.1 常见表面缺陷第10-11页
        1.2.2 实验表面缺陷第11-12页
    1.3 金属回转表面缺陷检测技术的研究及应用现状第12-23页
        1.3.1 国内金属表面检测技术发展综述第12-15页
        1.3.2 国外金属表面检测技术的研究及应用第15-17页
        1.3.3 基于图像检测技术的表面缺陷检测技术的研究及应用第17-19页
        1.3.4 高亮回转表面缺陷识别算法综述第19-23页
    1.4 机器视觉表面缺陷检测面临的主要问题第23页
    1.5 课题来源及主要研究内容第23-25页
2 高亮回转表面检测系统研究第25-33页
    2.1 引言第25页
    2.2 测量系统的测量原理第25-26页
    2.3 测量系统的图像处理第26-28页
    2.4 测量系统的图像采集单元第28-32页
        2.4.1 机械系统架构第28-29页
        2.4.2 均匀光源系统第29-30页
        2.4.3 光源调制单元第30-31页
        2.4.4 机器视觉单元第31-32页
    2.5 本章小结第32-33页
3 高亮表面缺陷的提取第33-51页
    3.1 引言第33-35页
    3.2 图像去噪预处理第35-42页
        3.2.1 图像噪声产生及分析第35页
        3.2.2 空域滤波器第35-37页
        3.2.3 双边滤波及其加速第37-42页
    3.3 图像分割与识别第42-47页
        3.3.1 基于边界的图像分割第42-45页
        3.3.2 基于区域的图像分割第45-47页
    3.4 数学形态学操作第47-49页
    3.5 本章小结第49-51页
4 缺陷分类及数据管理第51-61页
    4.1 引言第51页
    4.2 缺陷几何表征参数第51-52页
    4.3 缺陷表征计算及分类阈值讨论第52-55页
        4.3.1 缺陷目标面积特征S第52-53页
        4.3.2 缺陷目标欧拉数特征N_(Euler)第53页
        4.3.3 缺陷目标短/长径比特征R_b第53-55页
        4.3.4 缺陷目标周长C第55页
    4.4 缺陷图像的特征识别第55-57页
        4.4.1 缺陷图像识别第55-56页
        4.4.2 分类阈值决定第56-57页
    4.5 表征信息数据管理第57-59页
        4.5.1 数据表建立第57-58页
        4.5.2 数据管理第58-59页
    4.6 本章小结第59-61页
5 表面缺陷检测实验及其分析第61-71页
    5.1 引言第61页
    5.2 实验环境搭建第61页
    5.3 缺陷识别分步实验和分析第61-64页
    5.4 缺陷识别分类实验和分析第64-67页
    5.5 缺陷识别对比实验和分析第67-70页
    5.6 本章小结第70-71页
6 结论及展望第71-75页
    6.1 本文主要结论第71-72页
    6.2 工作展望第72-75页
致谢第75-77页
参考文献第77-81页
在校期间发表的论文及专利第81页

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