| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 绝缘子污秽表征方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 绝缘子污秽检测方法 | 第13-15页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 基于紫外脉冲的绝缘放电检测原理 | 第16-23页 |
| 2.1 污秽绝缘子电晕放电理论分析 | 第16-18页 |
| 2.2 绝缘子表面放电光谱分析 | 第18-19页 |
| 2.3 紫外脉冲检测原理 | 第19-20页 |
| 2.4 紫外光敏管工作原理 | 第20-22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 紫外脉冲检测系统设计 | 第23-33页 |
| 3.1 整体方案设计 | 第23-24页 |
| 3.2 硬件部分 | 第24-29页 |
| 3.2.1 紫外脉冲传感器 | 第24-26页 |
| 3.2.2 脉冲信号预处理模块 | 第26-27页 |
| 3.2.3 温湿度模块与通讯模块 | 第27-29页 |
| 3.3 软件部分 | 第29-31页 |
| 3.3.1 脉冲信号采集程序设计 | 第29-30页 |
| 3.3.2 显示界面设计 | 第30-31页 |
| 3.4 传感器性能测试 | 第31-32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第4章 污秽参数对交流绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第33-48页 |
| 4.1 实验设备及原理 | 第33-34页 |
| 4.2 交流污秽绝缘子试样的涂污 | 第34-38页 |
| 4.2.1 不同污秽分布绝缘子试样 | 第36-38页 |
| 4.2.2 不同盐密绝缘子试样 | 第38页 |
| 4.2.3 不同湿度下的污秽绝缘子试样 | 第38页 |
| 4.3 试验方法与步骤 | 第38-39页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第39-46页 |
| 4.4.1 污秽分布对绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第39-41页 |
| 4.4.2 不同污秽盐密对绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第41-42页 |
| 4.4.3 湿度对绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第42-46页 |
| 4.5 本章小结 | 第46-48页 |
| 第5章 污秽参数对直流绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第48-59页 |
| 5.1 实验装置及接线原理 | 第48-50页 |
| 5.2 直流污秽绝缘子试样的涂污 | 第50-52页 |
| 5.2.1 不同污秽分布绝缘子试样 | 第50-51页 |
| 5.2.2 不同盐密绝缘子试样 | 第51-52页 |
| 5.2.3 不同湿度下的污秽绝缘子试样 | 第52页 |
| 5.3 试验方法与步骤 | 第52-53页 |
| 5.4 试验结果与分析 | 第53-58页 |
| 5.4.1 污秽分布对直流绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第53-54页 |
| 5.4.2 不同污秽盐密对直流绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第54-55页 |
| 5.4.3 湿度对直流绝缘子外绝缘状态的影响规律 | 第55-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 总结 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-66页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第66页 |
| 一、攻读硕士学位期间发表的论文 | 第66页 |
| 二、参与科研项目 | 第66页 |
