涂层性能的超声无损检测与表征技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 本课题的研究意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-16页 |
| 1.2.1 涂层性能检测技术概述 | 第11-12页 |
| 1.2.2 涂层性能超声检测研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.3 发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.3 本课题的研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 涂层的声学参数及声传播规律 | 第18-24页 |
| 2.1 涂层的声学参数 | 第18-21页 |
| 2.1.1 声速 | 第18-19页 |
| 2.1.2 声阻抗 | 第19页 |
| 2.1.3 声衰减 | 第19-21页 |
| 2.2 超声波在多层介质中的传播 | 第21-23页 |
| 2.2.1 超声波在分层界面上的反射及透射 | 第21-22页 |
| 2.2.2 多层介质的反射系数及透射系数 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 涂层厚度及均匀性检测方法研究 | 第24-53页 |
| 3.1 基于Welch谱估计的涂层厚度测量原理 | 第24-29页 |
| 3.1.1 n次反射回波信号的频域分析 | 第24-27页 |
| 3.1.2 Welch法谱估计 | 第27-29页 |
| 3.2 超声显微镜系统 | 第29-35页 |
| 3.2.1 系统的总体框架 | 第29-30页 |
| 3.2.2 硬件模块组成 | 第30-32页 |
| 3.2.3 软件模块组成 | 第32-35页 |
| 3.3 涂层厚度测量实验 | 第35-45页 |
| 3.3.1 实验前期准备 | 第35-37页 |
| 3.3.2 超声测量实验结果及分析 | 第37-45页 |
| 3.4 涂层厚度均匀性检测 | 第45-51页 |
| 3.4.1 C | 第45-49页 |
| 3.4.2 涂层厚度C扫成像及均匀性检测 | 第49-51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 涂层结合质量检测与表征方法研究 | 第53-69页 |
| 4.1 涂层结合质量检测与表征原理 | 第53-59页 |
| 4.1.1 底面回波法检测结合缺陷原理 | 第53-54页 |
| 4.1.2 透射影响系数K表征结合强度原理 | 第54-57页 |
| 4.1.3 非线性参数表征结合强度原理 | 第57-59页 |
| 4.2 非线性超声检测系统 | 第59-61页 |
| 4.2.1 系统的框架 | 第59-60页 |
| 4.2.2 RITEC非线性高能超声测试系统 | 第60-61页 |
| 4.3 涂层结合缺陷检测实验研究 | 第61-62页 |
| 4.3.1 缺陷试件的制备 | 第61页 |
| 4.3.2 结合缺陷检测实验 | 第61-62页 |
| 4.4 涂层结合强度表征实验研究 | 第62-68页 |
| 4.4.1 实验试件的制备 | 第62-63页 |
| 4.4.2 超声特征参数的测量 | 第63-65页 |
| 4.4.3 涂层结合强度的力学检测方法 | 第65-67页 |
| 4.4.4 超声特征参数与结合强度的关系 | 第67-68页 |
| 4.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 总结和展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文与研究成果清单 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
