| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·电场辐射的危害 | 第9-11页 |
| ·电场辐射对人体的危害 | 第9-10页 |
| ·电场辐射对电子产品的危害 | 第10-11页 |
| ·智能电场探头的简介 | 第11-15页 |
| ·电场探头的发展历史 | 第11-12页 |
| ·智能电场探头的结构 | 第12-13页 |
| ·研究背景与研究目的 | 第13-15页 |
| ·本文的主要工作 | 第15页 |
| ·论文结构 | 第15-17页 |
| 第二章 系统设计与内部接口原理 | 第17-27页 |
| ·电磁辐射概述 | 第17-18页 |
| ·电磁辐射 | 第17页 |
| ·电流元的辐射场 | 第17-18页 |
| ·电磁辐射测量原理 | 第18-20页 |
| ·电磁辐射场的划分 | 第18-19页 |
| ·电磁辐射的测量 | 第19-20页 |
| ·内部接口硬件设计概述 | 第20-23页 |
| ·系统模块介绍 | 第20-21页 |
| ·智能电场探头通信接口的设计 | 第21-23页 |
| ·上位机与单片机C8051F320 之间通信接口的设计 | 第23页 |
| ·模数转换模块与单片机C8051F320 之间通信接口的设计 | 第23页 |
| ·内部接口软件设计概述 | 第23-26页 |
| ·软件开发环境 | 第24-25页 |
| ·总体软件设计流程 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 硬件设计 | 第27-37页 |
| ·上位机与单片机控制单元之间的通信接口 | 第27-29页 |
| ·硬件电路连接 | 第27页 |
| ·改进设想 | 第27-29页 |
| ·模数转换模块与单片机控制单元之间的通信接口 | 第29-31页 |
| ·硬件电路连接 | 第29-31页 |
| ·改进设想 | 第31页 |
| ·主要芯片特性的介绍 | 第31-35页 |
| ·C8051F320 芯片特性 | 第31-32页 |
| ·AD7714 芯片特性 | 第32-35页 |
| ·MAX3232 芯片特性 | 第35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 软件设计 | 第37-57页 |
| ·智能电场探头通信接口的软件设计 | 第37-44页 |
| ·通信接口的基本类型 | 第37-39页 |
| ·通信接口的数据传输格式 | 第39-44页 |
| ·上位机与单片机控制单元之间通信接口软件设计 | 第44-51页 |
| ·串行通信协议 | 第44-46页 |
| ·上位机与单片机控制单元之间的串口通信 | 第46-48页 |
| ·上位机命令的执行 | 第48-50页 |
| ·差错校正 | 第50-51页 |
| ·模数转换模块与单片机控制单元之间通信接口软件设计 | 第51-54页 |
| ·AD7714 串行接口的读写时序 | 第52页 |
| ·AD7714 的初始化 | 第52-53页 |
| ·模数转换模块与单片机控制单元之间通信软件设计 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-57页 |
| 第五章 调试 | 第57-65页 |
| ·智能电场探头通信接口模块的调试应用工具 | 第57-59页 |
| ·C8051F320 片内调试系统简介 | 第57-58页 |
| ·串口调试助手的简介 | 第58页 |
| ·其它的一些实验仪器 | 第58-59页 |
| ·智能电场探头通信接口模块的硬件调试 | 第59-61页 |
| ·各部分电源与晶振的测试 | 第59-60页 |
| ·接口电平转换点的电平特性 | 第60-61页 |
| ·智能电场探头通信接口模块的软件调试 | 第61-64页 |
| ·上位机与单片机控制单元之间通信接口的软件调试 | 第61-63页 |
| ·模数转换模块与单片机控制单元之间通信接口的软件调试 | 第63-64页 |
| ·测试结论 | 第64-65页 |
| 第六章 结束语 | 第65-67页 |
| ·全文总结 | 第65页 |
| ·结论 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 研究成果 | 第73-74页 |
