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复介电常数的测量和成像中的逆问题研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
目录第8-10页
1 绪论第10-15页
    1.1 研究意义第10-11页
    1.2 研究现状第11-13页
    1.3 研究内容第13-15页
2 基于子空间理论的电磁逆散射成像算法第15-28页
    2.0 引言第15页
    2.1 正问题的数学模型第15-17页
    2.2 场方程的病态性分析第17-19页
    2.3 基于子空间的迭代反演算法第19-20页
    2.4 高介电常数散射体成像第20-25页
    2.5 引入TV正则化的SOM算法第25-26页
    2.6 本章小结第26-28页
3 短路同轴法测量复介电常数第28-45页
    3.1 传统的同轴线法的基本原理第28-29页
    3.2 传统的终端短路同轴法容易遇到的问题第29-33页
    3.3 同轴线主模与高次模的场分布第33-35页
    3.4 同轴线突变结构中电磁场的模式展开第35-38页
    3.5 利用边界条件进行模式匹配第38页
    3.6 利用贝塞尔函数系的正交性建立方程组第38-41页
    3.7 正问题计算结果第41-42页
    3.8 实验与仿真结果第42-44页
    3.9 本章小结第44-45页
4 基于耦合谐振线圈的复介电常数测量方法第45-60页
    4.1 引言第45-46页
    4.2 线圈阻抗变化与被测物复介电常数的数学关系第46-47页
    4.3 利用谐振线圈的耦合实现阻抗匹配第47-50页
    4.4 提高灵敏度的原理第50-51页
    4.5 提高灵敏度的实验验证第51-53页
    4.6 简化数学模型第53-55页
    4.7 简化模型的仿真验证第55-57页
    4.8 简化模型的实验验证第57-58页
    4.9 本章小结第58-60页
5 结束语第60-62页
参考文献第62-66页
致谢第66-67页
攻读博士学位期间的研究成果第67-68页

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