复介电常数的测量和成像中的逆问题研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 1 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究意义 | 第10-11页 |
| 1.2 研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 研究内容 | 第13-15页 |
| 2 基于子空间理论的电磁逆散射成像算法 | 第15-28页 |
| 2.0 引言 | 第15页 |
| 2.1 正问题的数学模型 | 第15-17页 |
| 2.2 场方程的病态性分析 | 第17-19页 |
| 2.3 基于子空间的迭代反演算法 | 第19-20页 |
| 2.4 高介电常数散射体成像 | 第20-25页 |
| 2.5 引入TV正则化的SOM算法 | 第25-26页 |
| 2.6 本章小结 | 第26-28页 |
| 3 短路同轴法测量复介电常数 | 第28-45页 |
| 3.1 传统的同轴线法的基本原理 | 第28-29页 |
| 3.2 传统的终端短路同轴法容易遇到的问题 | 第29-33页 |
| 3.3 同轴线主模与高次模的场分布 | 第33-35页 |
| 3.4 同轴线突变结构中电磁场的模式展开 | 第35-38页 |
| 3.5 利用边界条件进行模式匹配 | 第38页 |
| 3.6 利用贝塞尔函数系的正交性建立方程组 | 第38-41页 |
| 3.7 正问题计算结果 | 第41-42页 |
| 3.8 实验与仿真结果 | 第42-44页 |
| 3.9 本章小结 | 第44-45页 |
| 4 基于耦合谐振线圈的复介电常数测量方法 | 第45-60页 |
| 4.1 引言 | 第45-46页 |
| 4.2 线圈阻抗变化与被测物复介电常数的数学关系 | 第46-47页 |
| 4.3 利用谐振线圈的耦合实现阻抗匹配 | 第47-50页 |
| 4.4 提高灵敏度的原理 | 第50-51页 |
| 4.5 提高灵敏度的实验验证 | 第51-53页 |
| 4.6 简化数学模型 | 第53-55页 |
| 4.7 简化模型的仿真验证 | 第55-57页 |
| 4.8 简化模型的实验验证 | 第57-58页 |
| 4.9 本章小结 | 第58-60页 |
| 5 结束语 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 攻读博士学位期间的研究成果 | 第67-68页 |
