| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第11页 |
| 1.2 课题研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 检验装置的技术指标 | 第12-13页 |
| 1.4 本文的主要工作 | 第13页 |
| 1.5 论文的组织结构 | 第13-16页 |
| 第2章 检验装置的总体设计方案 | 第16-22页 |
| 2.1 检验装置的总体结构 | 第16-19页 |
| 2.1.1 检验装置实现的主要功能及特点 | 第17页 |
| 2.1.2 检验装置的工作流程 | 第17-19页 |
| 2.2 检验装置的设计方案 | 第19-20页 |
| 2.3 本章小结 | 第20-22页 |
| 第3章 DDS技术在FPGA中的应用与仿真 | 第22-42页 |
| 3.1 频率合成技术简介 | 第22-24页 |
| 3.1.1 频率合成技术的发展 | 第22-23页 |
| 3.1.2 频率合成技术指标 | 第23-24页 |
| 3.2 直接数字频率合成原理 | 第24-26页 |
| 3.3 DDS的结构设计及仿真实现 | 第26-34页 |
| 3.3.1 DDS的总体结构设计 | 第26-27页 |
| 3.3.2 相位累加器设计及仿真 | 第27-29页 |
| 3.3.3 波形存储器ROM设计仿真 | 第29-32页 |
| 3.3.4 DDS系统的完整仿真 | 第32-34页 |
| 3.4 DDS的性能特点 | 第34-35页 |
| 3.5 DDS理想输出频谱特性 | 第35-37页 |
| 3.6 DDS实际频谱分析 | 第37-40页 |
| 3.6.1 相位截断误差 | 第38页 |
| 3.6.2 幅度量化误差 | 第38页 |
| 3.6.3 D/A线性误差 | 第38-40页 |
| 3.7 频谱杂散的改善 | 第40页 |
| 3.8 本章小结 | 第40-42页 |
| 第4章 检验装置的硬件电路设计 | 第42-68页 |
| 4.1 设计方案比较 | 第42-43页 |
| 4.2 现场可编程门阵列(FPGA)控制器及其外围电路设计 | 第43-50页 |
| 4.2.1 FPGA简介 | 第43-45页 |
| 4.2.2 FPGA配置电路设计 | 第45-48页 |
| 4.2.3 系统电源与晶振电路设计 | 第48-50页 |
| 4.2.4 通讯电路设计 | 第50页 |
| 4.3 D/A数模转换电路设计 | 第50-54页 |
| 4.3.1 双极性变换电路设计 | 第52页 |
| 4.3.2 幅值调节电路 | 第52-54页 |
| 4.4 滤波器设计 | 第54-57页 |
| 4.4.1 二阶压控有源滤波器原理 | 第55-56页 |
| 4.4.2 滤波器仿真分析 | 第56-57页 |
| 4.5 功率放大电路设计 | 第57-62页 |
| 4.5.1 放大电路组成及原理 | 第58-60页 |
| 4.5.2 功率放大电路仿真 | 第60-62页 |
| 4.6 采样电路设计 | 第62-64页 |
| 4.6.1 电压检测电路 | 第62-63页 |
| 4.6.2 电流检测电路设计 | 第63-64页 |
| 4.7 PCB硬件电路版图 | 第64-66页 |
| 4.8 本章小结 | 第66-68页 |
| 第5章 系统软件设计及实验结果分析 | 第68-76页 |
| 5.1 系统软件设计 | 第68-69页 |
| 5.2 硬件调试及实验结果分析 | 第69-73页 |
| 5.3 信号源精度分析 | 第73-74页 |
| 5.4 本章小结 | 第74-76页 |
| 第6章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82页 |