摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第8-11页 |
CONTENTS | 第11-14页 |
第一章 绪论 | 第14-23页 |
1.1 PZT压电陶瓷的简介 | 第14-15页 |
1.2 PZT压电陶瓷的应用 | 第15-16页 |
1.3 PZT压电陶瓷低温烧结的方法 | 第16-20页 |
1.3.1 固相法 | 第17-18页 |
1.3.2 液相法 | 第18-19页 |
1.3.3 复合法 | 第19-20页 |
1.4 PZT压电陶瓷的掺杂 | 第20-21页 |
1.4.1 等价离子的掺杂 | 第20页 |
1.4.2 高价离子的掺杂 | 第20页 |
1.4.3 低价离子的掺杂 | 第20-21页 |
1.4.4 变价离子的掺杂 | 第21页 |
1.5 课题的研究背景和意义 | 第21-22页 |
1.6 研究目的及内容 | 第22-23页 |
第二章 实验材料和方法 | 第23-30页 |
2.1 引言 | 第23页 |
2.2 实验材料 | 第23-24页 |
2.3 主要仪器 | 第24页 |
2.4 实验方案 | 第24-25页 |
2.5 实验具体步骤介绍 | 第25-28页 |
2.5.1 偏钛酸的制备 | 第25页 |
2.5.2 预烧 | 第25-26页 |
2.5.3 PVA的制备及压片 | 第26页 |
2.5.4 排塑 | 第26页 |
2.5.5 烧结 | 第26-27页 |
2.5.6 被银以及烧银 | 第27页 |
2.5.7 极化 | 第27页 |
2.5.8 老化 | 第27-28页 |
2.6 检测方法 | 第28-30页 |
2.6.1 TG-DTA | 第28页 |
2.6.2 XRD | 第28页 |
2.6.3 SEM | 第28页 |
2.6.4 介电性能测试 | 第28-29页 |
2.6.5 压电性能测试 | 第29-30页 |
第三章 乙酸铅低温制备PZT压电陶瓷及其性能研究 | 第30-42页 |
3.1 引言 | 第30页 |
3.2 结果与讨论 | 第30-40页 |
3.2.1 TG-DTA分析 | 第30-31页 |
3.2.2 正交试验 | 第31-38页 |
3.2.3 介电性能测试 | 第38-40页 |
3.3 本章小结 | 第40-42页 |
第四章 碱式碳酸铅低温制备PZT压电陶瓷及性能研究 | 第42-48页 |
4.1 引言 | 第42页 |
4.2 结果与讨论 | 第42-46页 |
4.2.1 TGA-DTA分析 | 第42-43页 |
4.2.2 碱式碳酸铅与Zr/Ti的比例 | 第43-44页 |
4.2.3 不同Pb含量对介电性能的影响 | 第44-46页 |
4.2.4 不同Pb含量对压电性能的影响 | 第46页 |
4.3 本章小结 | 第46-48页 |
第五章 CeO_2掺杂改性对PZT压电陶瓷的影响 | 第48-51页 |
5.1 引言 | 第48页 |
5.2 结果与讨论 | 第48-50页 |
5.2.1 XRD物相分析 | 第48-49页 |
5.2.2 CeO_2掺杂对电性能的影响 | 第49-50页 |
5.3 本章小结 | 第50-51页 |
总结 | 第51-53页 |
本文的特色与创新之处 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-60页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第60-61页 |
攻读硕士学位期间参加的课题 | 第61-64页 |
致谢 | 第64页 |