| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 符号说明 | 第9-10页 |
| 一、前言 | 第10-18页 |
| 1.1 分子印迹技术 | 第10-14页 |
| 1.1.1 分子印迹聚合物 | 第10-11页 |
| 1.1.2 分子印迹聚合物的合成材料 | 第11-14页 |
| 1.2 低共熔溶剂 | 第14-16页 |
| 1.3 选题意义及研究内容 | 第16-18页 |
| 二、大分子拥挤环境下分子印迹整体柱的制备及CEC评价 | 第18-33页 |
| 2.1 引言 | 第18-19页 |
| 2.2 实验部分 | 第19-22页 |
| 2.2.1 试剂 | 第19-20页 |
| 2.2.2 仪器 | 第20页 |
| 2.2.3 毛细管整体柱的制备 | 第20-21页 |
| 2.2.4 毛细管电色谱 | 第21-22页 |
| 2.2.5 MIPs整体柱SEM特征 | 第22页 |
| 2.3 结果与结论 | 第22-31页 |
| 2.3.1 大分子拥挤试剂环境下 MIPs 整体柱的合成 | 第22-27页 |
| 2.3.2 毛细管电色谱实验 | 第27-31页 |
| 2.4 小结 | 第31-33页 |
| 三、基于低共熔溶剂的毛细管整体柱的制备和研究 | 第33-57页 |
| 3.1 引言 | 第33-34页 |
| 3.2 实验部分 | 第34-37页 |
| 3.2.1 试剂 | 第34页 |
| 3.2.2 仪器 | 第34-35页 |
| 3.2.3 毛细管整体柱的制备 | 第35页 |
| 3.2.4 毛细管电色谱 | 第35-37页 |
| 3.2.5 毛细管整体柱的SEM形态表征 | 第37页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第37-56页 |
| 3.3.1 形态学考察 | 第37-39页 |
| 3.3.2 以低共熔溶剂为致孔剂整体柱制备参数研究 | 第39-48页 |
| 3.3.3 板高曲线 | 第48-50页 |
| 3.3.4 DES种类对分离效率的影响 | 第50-51页 |
| 3.3.5 电解液离子强度对整体柱分离效率的影响 | 第51-52页 |
| 3.3.6 流动相离子强度对流速的影响 | 第52-53页 |
| 3.3.7 氮吸附（Gas adsorption）实验 | 第53-55页 |
| 3.3.8 重现性试验 | 第55-56页 |
| 3.4 小结 | 第56-57页 |
| 结论 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-69页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第69-70页 |
| 综述 | 第70-95页 |
| 综述参考文献 | 第88-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
