| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 混响室及其测试背景 | 第10页 |
| 1.2 天线及其参数测试背景 | 第10-13页 |
| 1.2.1 天线参数的应用 | 第11页 |
| 1.2.2 天线参数的测试背景 | 第11-13页 |
| 1.3 研究内容及研究意义 | 第13页 |
| 1.4 论文的逻辑结构 | 第13-14页 |
| 1.5 天线及测试采样频点的说明 | 第14-15页 |
| 第二章 混响室及其理论基础 | 第15-23页 |
| 2.1 混响室系统 | 第15-17页 |
| 2.1.1 混响室硬件系统 | 第15-16页 |
| 2.1.2 混响室测试系统 | 第16-17页 |
| 2.2 混响室的场均匀性理论 | 第17-19页 |
| 2.3 混响室的品质因数理论 | 第19-21页 |
| 2.4 混响室主要技术参数 | 第21-23页 |
| 第三章 时域法测试的特性研究 | 第23-35页 |
| 3.1 频域法测试混响室Q值的理论与分析 | 第23-24页 |
| 3.2 时域法测试混响室Q值的理论与分析 | 第24-26页 |
| 3.2.1 时域理论 | 第24-25页 |
| 3.2.2 矢网相关参数的选择 | 第25-26页 |
| 3.3 时域测试法的特性研究 | 第26-32页 |
| 3.3.1 采样数与时域衰减曲线关系的研究 | 第27-28页 |
| 3.3.2 天线属性与时域衰减曲线关系的研究 | 第28-30页 |
| 3.3.3 混响室加载量对时域衰减曲线的影响 | 第30-32页 |
| 3.3.4 混响室时域衰减曲线的频率特性 | 第32页 |
| 3.4 混响室Q值汇总 | 第32-33页 |
| 3.5 总结与结论 | 第33-35页 |
| 第四章 S_(21)参数的测试不确定度 | 第35-41页 |
| 4.1 测试不确定度理论基础 | 第35-36页 |
| 4.2 S_(21)测量不确定度的影响因素 | 第36-40页 |
| 4.2.1 采样数对S_(21)的测试不确定度影响 | 第36-37页 |
| 4.2.2 天线位置数量对S_(21)的测试不确定度影响 | 第37-38页 |
| 4.2.3 天线极化对S_(21)的测试不确定度影响 | 第38-39页 |
| 4.2.4 混响室加载对S_(21)的测试不确定度影响 | 第39页 |
| 4.2.5 边缘场的测试不确定度 | 第39-40页 |
| 4.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 第五章 混响室法天线效率的测试与分析 | 第41-52页 |
| 5.1 基本理论 | 第41-43页 |
| 5.1.1 混响室的二端口网络 | 第41-42页 |
| 5.1.2 天线效率η测试理论 | 第42-43页 |
| 5.2 天线效率测试步骤及结果 | 第43-49页 |
| 5.2.1 试验步骤 | 第43-45页 |
| 5.2.2 对数周期天线的辐射效率测试结果与分析 | 第45-46页 |
| 5.2.3 双脊喇叭天线的辐射效率测试结果与分析 | 第46-48页 |
| 5.2.4 微带天线辐射效率的测试结果与分析 | 第48-49页 |
| 5.3 测试误差来源分析 | 第49-51页 |
| 5.3.1 时域曲线的拟合误差 | 第49页 |
| 5.3.2 反射系数的测试误差 | 第49-50页 |
| 5.3.3 S_(21)参数的统计误差 | 第50-51页 |
| 5.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第六章 混响室法天线增益的测试与分析 | 第52-63页 |
| 6.1 付里斯传输公式 | 第52-53页 |
| 6.2 暗室法天线增益测试 | 第53-55页 |
| 6.3 混响室法天线增益测试 | 第55-61页 |
| 6.3.1 统计均匀场对天线方向性的平均化效应 | 第56页 |
| 6.3.2 反射波对天线传播损耗的影响 | 第56-57页 |
| 6.3.3 混响室LOS场分量的分离 | 第57-58页 |
| 6.3.4 相量叠加法的可行性分析 | 第58-59页 |
| 6.3.5 混响室法测试天线增益 | 第59-61页 |
| 6.4 结果分析与总结 | 第61-62页 |
| 6.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第七章 总结与展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-66页 |
