| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第13-29页 |
| 1.1 引言 | 第13页 |
| 1.2 常规检测方法概述 | 第13-16页 |
| 1.2.1 原子吸收光谱(AAS) | 第13-14页 |
| 1.2.2 电感耦合等离子体质谱(ICP-MS) | 第14页 |
| 1.2.3 电化学分析方法 | 第14-16页 |
| 1.3 常规检测方法存在的问题 | 第16页 |
| 1.4 电化学-光谱联用技术 | 第16-18页 |
| 1.4.1 X-射线荧光光谱(XRF) | 第17页 |
| 1.4.2 激光诱导激光光谱(LIBS) | 第17页 |
| 1.4.3 电化学-光谱技术在重金属离子分析方面的应用 | 第17-18页 |
| 1.5 本论文的选题依据及主要内容 | 第18-21页 |
| 1.5.1 选题依据 | 第18-19页 |
| 1.5.2 主要研究内容 | 第19-20页 |
| 1.5.3 本论文的创新性 | 第20-21页 |
| 参考文献 | 第21-29页 |
| 第二章 暴露高反应活性面的超薄SnO_2纳米片修饰电极实现对水中As(Ⅲ)检测 | 第29-51页 |
| 2.1 引言 | 第29-30页 |
| 2.2 实验部分 | 第30-33页 |
| 2.2.1 主要化学试剂及规格 | 第30-31页 |
| 2.2.2 超薄SnO_2纳米片的制备过程 | 第31页 |
| 2.2.3 仪器 | 第31页 |
| 2.2.4 超薄SnO_2纳米片修饰电极的制备 | 第31-32页 |
| 2.2.5 电化学实验 | 第32页 |
| 2.2.6 吸附实验 | 第32-33页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第33-44页 |
| 2.3.1 超薄SnO_2纳米片的形态和结构表征 | 第33-34页 |
| 2.3.2 超薄SnO_2纳米片修饰电极的电化学表征 | 第34-35页 |
| 2.3.3 SnO_2纳米片修饰电极电化学方法检测As(Ⅲ) | 第35-41页 |
| 2.3.4 基于吸附作用的可能检测机理 | 第41-42页 |
| 2.3.5 干扰实验 | 第42-43页 |
| 2.3.6 实际水样品分析 | 第43-44页 |
| 2.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-51页 |
| 第三章 电促吸附辅助X-射线荧光实现对水中As(Ⅲ)的无干扰检测 | 第51-69页 |
| 3.1 引言 | 第51-52页 |
| 3.2 实验部分 | 第52-55页 |
| 3.2.1 主要化学试剂及规格 | 第53页 |
| 3.2.2 碳球的合成及其氨基化过程 | 第53-54页 |
| 3.2.3 电促吸附实验 | 第54-55页 |
| 3.2.4 实验所需仪器 | 第55页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第55-64页 |
| 3.3.1 氨基化碳球(NH_2-CMSs)的形貌和结构表征 | 第55-56页 |
| 3.3.2 电促吸附实验条件优化 | 第56-59页 |
| 3.3.3 EA-XRF方法检测水溶液中的As(Ⅲ) | 第59-61页 |
| 3.3.4 干扰实验和检测稳定性探究 | 第61-63页 |
| 3.3.5 实际样品分析 | 第63-64页 |
| 3.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 第四章 利用微区液体排空系统实现激光诱导击穿光谱原位检测水溶液中Cr(Ⅵ) | 第69-85页 |
| 4.1 引言 | 第69-70页 |
| 4.2 实验部分 | 第70-73页 |
| 4.2.1 主要化学试剂及规格 | 第70-71页 |
| 4.2.2 材料表征实验仪器 | 第71页 |
| 4.2.3 原位水下LIBS检测仪器 | 第71-72页 |
| 4.2.4 壳聚糖修饰氧化石墨烯(CS-GO)的合成 | 第72-73页 |
| 4.2.5 电吸附实验 | 第73页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第73-79页 |
| 4.3.1 壳聚糖修饰氧化石墨烯材料形貌和结构表征 | 第73-74页 |
| 4.3.2 电吸附实验参数优化 | 第74-75页 |
| 4.3.3 电吸附富集法和CS-GO电极修饰剂对LIBS检测Cr(Ⅵ)的影响 | 第75-76页 |
| 4.3.4 微区液体排空系统对LIBS检测Cr(Ⅵ)的影响 | 第76-77页 |
| 4.3.5 原位水下LIBS检测不同浓度Cr(Ⅵ) | 第77-78页 |
| 4.3.6 抗干扰实验研究 | 第78-79页 |
| 4.3.7 实际水样检测 | 第79页 |
| 4.4 本章小结 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 第五章 光谱-电化学联用实现大米中Cd(Ⅱ)的无干扰检测 | 第85-103页 |
| 5.1 引言 | 第85-86页 |
| 5.2 实验部分 | 第86-90页 |
| 5.2.1 主要实验试剂及规格 | 第87页 |
| 5.2.2 仪器设备 | 第87页 |
| 5.2.3 层层自组装法制备GO/Ti片 | 第87-88页 |
| 5.2.4 大米样品的收集和处理 | 第88-89页 |
| 5.2.5 电化学富集和LIBS检测 | 第89-90页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第90-97页 |
| 5.3.1 GO/PDDA-Ti片的修饰方法和表征 | 第90页 |
| 5.3.2 EC-LIBS法在GO/PDDA-Ti片上检测Cd | 第90-92页 |
| 5.3.3 EC-LIBS在单一环境中检测Cd(Ⅱ) | 第92-93页 |
| 5.3.4 大米中主要金属离子对EC-LIBS检测Cd(Ⅱ)的干扰研究 | 第93-95页 |
| 5.3.5 在真实大米环境中检测Cd(Ⅱ) | 第95-96页 |
| 5.3.6 检测不同大米样品中的Cd(Ⅱ) | 第96-97页 |
| 5.4 本章小结 | 第97-98页 |
| 参考文献 | 第98-103页 |
| 全文总结与展望 | 第103-105页 |
| 致谢 | 第105-107页 |
| 在读期间发表的学术论文及取得的研究成果 | 第107-108页 |
