静态随机存取存储器单粒子试验系统的设计与实现
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·研究背景与意义 | 第9页 |
·SRAM单粒子效应及其研究的必要性 | 第9-12页 |
·SRAM单粒子测试系统研究现状 | 第12-14页 |
·按照测试系统放置位置分 | 第12-13页 |
·按照测试系统核心单元分 | 第13-14页 |
·本文主要研究内容 | 第14-17页 |
第二章 系统设计原理 | 第17-33页 |
·试验对象 | 第17-18页 |
·试验环境 | 第18-26页 |
·试验对象将使用的空间环境 | 第18-21页 |
·地面模拟实验环境 | 第21-26页 |
·系统采用关键技术 | 第26-31页 |
·FPGA | 第26-29页 |
·LabVIEW | 第29-31页 |
·小结 | 第31-33页 |
第三章 需求分析与方案设计 | 第33-41页 |
·系统性能需求与方案选择 | 第33-35页 |
·系统性能需求 | 第33-34页 |
·系统总体方案 | 第34-35页 |
·具体系统方案 | 第35-39页 |
·下位机设计方案 | 第35-37页 |
·电源部分设计方案 | 第37-38页 |
·辐照试验板部分设计方案 | 第38页 |
·上位机部分设计方案 | 第38-39页 |
·小结 | 第39-41页 |
第四章 系统设计与实现 | 第41-61页 |
·硬件部分设计与实现 | 第41-49页 |
·下位机设计 | 第41-45页 |
·电源 | 第45-47页 |
·测试试验板 | 第47页 |
·电平转换板 | 第47-49页 |
·系统软件部分设计与实现 | 第49-59页 |
·下位机程序 | 第49-50页 |
·电源控制程序 | 第50-54页 |
·上位机程序 | 第54-56页 |
·控制界面 | 第56-59页 |
·小结 | 第59-61页 |
第五章 系统应用验证 | 第61-67页 |
·试验电路 | 第61-62页 |
·试验环境 | 第62-63页 |
·试验过程 | 第63页 |
·试验结果 | 第63-65页 |
·试验结果与分析 | 第65-67页 |
第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
·总结 | 第67页 |
·展望 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-73页 |
个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第73页 |