液晶显示屏缺陷自动检测方法的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·研究的背景和意义 | 第10-13页 |
| ·研究的背景 | 第10-12页 |
| ·研究的意义 | 第12-13页 |
| ·课题研究的内容和现状 | 第13-18页 |
| ·液晶显示屏缺陷介绍 | 第13-15页 |
| ·课题研究的内容 | 第15-16页 |
| ·课题研究的现状 | 第16-18页 |
| ·本文组织结构 | 第18-20页 |
| 第二章 液晶显示屏图像缺陷检测系统的总体设计 | 第20-27页 |
| ·系统的开发环境 | 第20-22页 |
| ·系统的硬件环境 | 第20-21页 |
| ·系统的软件环境 | 第21-22页 |
| ·系统的检测流程 | 第22-24页 |
| ·系统的人工操作过程 | 第22-23页 |
| ·系统模块图 | 第23-24页 |
| ·图像缺陷检测模块流程图 | 第24页 |
| ·本章小结 | 第24-27页 |
| 第三章 点缺陷和线缺陷检测方法研究 | 第27-40页 |
| ·图像分割 | 第27-30页 |
| ·基于阈值的分割算法 | 第28-29页 |
| ·基于区域的分割算法 | 第29-30页 |
| ·轮廓检测 | 第30-34页 |
| ·轮廓的定义 | 第30页 |
| ·轮廓的表现形式 | 第30-33页 |
| ·轮廓检测方法 | 第33-34页 |
| ·点缺陷和线缺陷的检测 | 第34-38页 |
| ·检测流程 | 第34-35页 |
| ·图像预处理 | 第35-36页 |
| ·缺陷分割 | 第36-38页 |
| ·缺陷量化及判定 | 第38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 mura缺陷的检测方法研究 | 第40-62页 |
| ·图像缩放 | 第40-42页 |
| ·模板匹配 | 第42-43页 |
| ·基于图像重建的mura缺陷检测 | 第43-48页 |
| ·基于SVD的mura缺陷检测算法 | 第43-45页 |
| ·基于余弦变换的背景重建 | 第45-48页 |
| ·线检测 | 第48-52页 |
| ·基于一阶导数的边缘检测算法 | 第50-51页 |
| ·基于二阶导数的边缘检测方法[39] | 第51-52页 |
| ·Canny边缘检测算子[39] | 第52页 |
| ·mura缺陷检测 | 第52-60页 |
| ·检测流程 | 第52-53页 |
| ·图像预处理 | 第53-54页 |
| ·图像重建 | 第54-55页 |
| ·点状mura缺陷检测 | 第55-58页 |
| ·区域mura缺陷检测 | 第58-59页 |
| ·线mura缺陷检测 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第五章 系统实验及分析 | 第62-66页 |
| ·实验环境 | 第62-63页 |
| ·实验结果 | 第63页 |
| ·实验分析 | 第63-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
