岩性密度测井仪刻度方法以及能谱漂移问题的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-13页 |
| ·核测井技术的发展历程 | 第10页 |
| ·核测井技术研究的国内外现状 | 第10-11页 |
| ·本课题的研究意义及选题依据 | 第11-12页 |
| ·主要研究内容 | 第12页 |
| ·本文内容结构安排 | 第12-13页 |
| 第2章 岩性密度测井仪结构以及原理 | 第13-22页 |
| ·岩性密度测井仪结构 | 第13-14页 |
| ·仪器描述 | 第13页 |
| ·技术性能 | 第13页 |
| ·仪器结构 | 第13-14页 |
| ·岩性密度测井物理原理 | 第14-16页 |
| ·密度测量原理 | 第15-16页 |
| ·岩性测量原理 | 第16页 |
| ·控制电路系统原理 | 第16-17页 |
| ·测井软件介绍 | 第17-21页 |
| ·测井系统简介 | 第21-22页 |
| 第3章 能谱漂移问题 | 第22-28页 |
| ·能谱漂移问题的发现 | 第22-25页 |
| ·固定高压低能区计数率实验 | 第22-24页 |
| ·自动稳谱低能区计数率实验 | 第24页 |
| ·自动稳谱高能区计数率实验 | 第24-25页 |
| ·造成能谱漂移的原因 | 第25-26页 |
| ·能谱漂移对仪器性能的影响 | 第26-28页 |
| 第4章 岩密仪器调试方法 | 第28-33页 |
| ·仪器调试思路 | 第28-29页 |
| ·仪器调试实验 | 第29-30页 |
| ·仪器调试结果 | 第30-33页 |
| 第5章 岩密仪器刻度方法 | 第33-45页 |
| ·仪器刻度基本原理 | 第33-34页 |
| ·密度刻度过程 | 第34-43页 |
| ·能谱数据获取 | 第35-38页 |
| ·脊肋图绘制 | 第38-40页 |
| ·密度参数刻度、算法拟合 | 第40-43页 |
| ·岩性刻度过程 | 第43-45页 |
| 第6章 电路与控制程序的改进 | 第45-58页 |
| ·数字基线恢复方案 | 第45页 |
| ·岩性密度测井仪主控电路 | 第45-51页 |
| ·放大滤波电路 | 第45-48页 |
| ·信号采样处理电路 | 第48-49页 |
| ·单片机控制电路以及通讯电路 | 第49-51页 |
| ·FPGA控制程序 | 第51-53页 |
| ·数字基线恢复模块 | 第51-52页 |
| ·双缓冲处理方式 | 第52页 |
| ·能谱计数累加模块 | 第52-53页 |
| ·数据传输模块 | 第53页 |
| ·单片机控制程序 | 第53-58页 |
| ·单片机与FPGA之间的串口通讯 | 第54-55页 |
| ·单片机与地面系统CAN节点之间的通讯 | 第55-56页 |
| ·信号基线的控制 | 第56-58页 |
| 第7章 电路程序改进测试结果分析 | 第58-62页 |
| ·基线数据测试结果 | 第58-60页 |
| ·能谱测试结果 | 第60页 |
| ·光电倍增管的影响 | 第60-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第66页 |
