| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-21页 |
| ·氢能利用现状 | 第9-14页 |
| ·铂,铜与铈的概述 | 第14-17页 |
| ·贵金属Pt概述 | 第14-15页 |
| ·掺杂元素Cu概述 | 第15-16页 |
| ·掺杂元素铈的概述 | 第16-17页 |
| ·Pt/C催化剂的制备技术 | 第17-19页 |
| ·载体的选择与预处理 | 第17-18页 |
| ·Pt/C催化剂的制备方法 | 第18-19页 |
| ·Pt/C催化剂的后处理 | 第19页 |
| ·课题研究内容 | 第19-21页 |
| 第二章 薄膜电极的制备及表征 | 第21-41页 |
| ·实验材料与仪器 | 第21-22页 |
| ·薄膜电极的制备 | 第22-32页 |
| ·制备原理 | 第22-23页 |
| ·制备流程 | 第23-29页 |
| ·实验方案与样品编号 | 第29-32页 |
| ·催化剂样品的电化学性能测试 | 第32-35页 |
| ·操作步骤 | 第32-33页 |
| ·测试方法 | 第33-35页 |
| ·结构表征 | 第35-40页 |
| ·XRD | 第36-37页 |
| ·SEM及EDS | 第37页 |
| ·XPS | 第37-39页 |
| ·AFM | 第39页 |
| ·HRTEM | 第39-40页 |
| ·ICP-AES | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第三章 单层薄膜样品分析 | 第41-61页 |
| ·电化学性能分析 | 第41-44页 |
| ·S系列样品的性能分析 | 第41-43页 |
| ·F系列样品的性能分析 | 第43-44页 |
| ·结构分析 | 第44-58页 |
| ·XRD物相分析 | 第44-47页 |
| ·SEM及EDS分析 | 第47-49页 |
| ·ICP-AES分析 | 第49-50页 |
| ·不同氧流量的XPS分析 | 第50-58页 |
| ·本章小结 | 第58-61页 |
| 第四章 多层薄膜样品分析 | 第61-83页 |
| ·电化学性能分析 | 第61-65页 |
| ·双层薄膜L系列样品的电化学性能分析 | 第61-63页 |
| ·双层薄膜J系列样品的电化学性能分析 | 第63-65页 |
| ·成分含量分析 | 第65页 |
| ·XRD分析 | 第65-69页 |
| ·膜层顺序的影响 | 第66-67页 |
| ·退火温度的影响 | 第67-68页 |
| ·酸处理条件的影响 | 第68-69页 |
| ·AFM分析 | 第69-70页 |
| ·SEM及EDS分析 | 第70-73页 |
| ·CeOx/PtCu的去合金化研究 | 第73-77页 |
| ·核壳型PtCu@Pt的制备 | 第73-75页 |
| ·去合金化CeOx/PtCu的电化学分析 | 第75-76页 |
| ·去合金化CeOx/PtCu的XRD分析 | 第76-77页 |
| ·不同膜层厚度的CeOx/PtCu双层膜的电化学分析 | 第77-78页 |
| ·三层膜样品的电化学性能分析 | 第78-80页 |
| ·M系列电化学性能分析 | 第79页 |
| ·N系列电化学分析 | 第79-80页 |
| ·本章小结 | 第80-83页 |
| 第五章 结论及展望 | 第83-85页 |
| ·结论 | 第83-84页 |
| ·展望 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-93页 |
| 附录 (研究生期间发表的论文) | 第93-95页 |