| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 引言 | 第9-17页 |
| ·课题来源 | 第9页 |
| ·研究意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-14页 |
| ·可靠性强化试验的国内外发展现状 | 第10-12页 |
| ·数控系统可靠性及其强化试验的研究现状 | 第12-14页 |
| ·本文研究应用的主要技术方法 | 第14-15页 |
| ·本文研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 数控系统的可靠性统计分析 | 第17-29页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·数控系统及其故障概述 | 第17-20页 |
| ·数控系统概述 | 第17-19页 |
| ·数控系统故障与故障类别 | 第19-20页 |
| ·数控系统的故障统计分析 | 第20-25页 |
| ·数控系统的故障部位分析 | 第20-21页 |
| ·数控系统的故障模式 | 第21-22页 |
| ·数控系统的故障原因分析 | 第22-23页 |
| ·数控系统的故障原因分类分析 | 第23-25页 |
| ·基于FMECA 的数控系统的故障统计分析 | 第25-28页 |
| ·故障模式、影响及危害度分析（FMECA） | 第25页 |
| ·数控系统的故障模式、影响及危害度分析（FMECA） | 第25-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 数控系统的可靠性加速试验及失效分析 | 第29-45页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·可靠性加速试验方法基本原理 | 第29-32页 |
| ·可靠性加速试验（ALT）基本原理 | 第29-30页 |
| ·可靠性典型加速模型 | 第30-32页 |
| ·数控系统可靠性加速试验过程及分析 | 第32-38页 |
| ·可靠性加速试验设备 | 第32页 |
| ·高温升温试验及分析 | 第32-34页 |
| ·高温高湿试验及分析 | 第34-38页 |
| ·基于加速失效的监测分析 | 第38-44页 |
| ·芯片温度监测分析 | 第38-39页 |
| ·电源电压监测及分析 | 第39-41页 |
| ·浪涌电压监测及分析 | 第41-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第4章 数控系统的可靠性强化试验研究 | 第45-57页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·可靠性强化试验概念与基本原理 | 第45-49页 |
| ·可靠性强化试验概念 | 第45-46页 |
| ·可靠性强化试验基本原理 | 第46-49页 |
| ·数控系统可靠性强化试验方案 | 第49-51页 |
| ·数控系统可靠性强化试验步骤 | 第51-53页 |
| ·可靠性强化试验过程及结果分析 | 第53-56页 |
| ·可靠性强化试验过程 | 第53-55页 |
| ·可靠性强化试验结果分析 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第5章 失效机理分析与可靠性改进 | 第57-66页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·失效机制的理论分析 | 第57-63页 |
| ·芯片失效机理分析 | 第57-60页 |
| ·电源失效机理分析 | 第60-63页 |
| ·可靠性改进措施 | 第63-64页 |
| ·芯片改进措施 | 第63-64页 |
| ·电源模块改进措施 | 第64页 |
| ·本章小结 | 第64-66页 |
| 第6章 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·主要研究结论 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间发表学术论文 | 第72-73页 |
| 附录2 可靠性加速试验实物图 | 第73-74页 |
| 附录3 数控系统显示电源电压升温波形测试图 | 第74-76页 |
| 附录4 数控系统显示电源电压浪涌波形测试图 | 第76-78页 |
| 附录5 可靠性强化试验场景实物图 | 第78页 |