摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
目录 | 第8-12页 |
第一章 绪论 | 第12-18页 |
·引言 | 第12页 |
·研究背景 | 第12-14页 |
·国产圆型纬编针织机的现状及发展趋势 | 第12-13页 |
·圆型纬编针织机控制技术的现状及发展趋势 | 第13-14页 |
·研究意义 | 第14-18页 |
·主要研究工作 | 第15-16页 |
·论文组织结构 | 第16-18页 |
第二章 多路数圆型纬编针织机控制系统总体框架设计 | 第18-24页 |
·多路数圆型纬编针织机的机构以及控制原理 | 第18-19页 |
·多路数圆型纬编针织机的机构 | 第18-19页 |
·多路数圆型纬编针织机控制原理 | 第19页 |
·多路数圆型纬编针织机的控制需求分析 | 第19-21页 |
·多路数圆型纬编针织机的控制点分析 | 第19-20页 |
·多路数圆型纬编针织机的控制性能要求 | 第20-21页 |
·多路数圆型纬编针织机控制系统总体架构设计 | 第21-23页 |
·控制系统的组成与功能 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 控制系统硬件设计 | 第24-39页 |
·主控制模块电路设计 | 第24-25页 |
·JTAG 调试接口电路 | 第24-25页 |
·复位电路 | 第25页 |
·选针器驱动模块电路设计 | 第25-28页 |
·CPLD 为核心的最小系统搭建 | 第26页 |
·选针驱动信号的高速隔离传输电路 | 第26-27页 |
·选针信号输出驱动增强电路 | 第27-28页 |
·传感信号检测模块电路设计 | 第28-30页 |
·光耦隔离电路设计的关键理论点分析 | 第28-29页 |
·普通传感信号检测电路 | 第29页 |
·编码器输出信号采集电路 | 第29-30页 |
·断纱传感信号检测电路 | 第30页 |
·变频电机驱动器控制模块电路设计 | 第30-32页 |
·PWM 转直流电平的关键理论点分析 | 第31-32页 |
·PWM 转直流电平电压可调电路 | 第32页 |
·Ethernet 以太网通讯模块电路设计 | 第32-34页 |
·STM32F407 内部自带以太网功能模块 | 第33页 |
·外置 PHY 选型以及以太网模块电路 | 第33-34页 |
·外扩 Flash 存储模块电路设计 | 第34-35页 |
·系统供电电源电路设计 | 第35-36页 |
·PCB 设计与抗干扰措施 | 第36-38页 |
·PCB 模块化布局 | 第36页 |
·电源与地层的分割隔离 | 第36-38页 |
·本章小结 | 第38-39页 |
第四章 控制系统软件开发 | 第39-56页 |
·控制系统软件开发环境 | 第39-41页 |
·STM32F407 开发环境 RealView MDK | 第39-40页 |
·CPLD 逻辑描述程序开发环境 Quartues II | 第40-41页 |
·主控程序设计 | 第41-43页 |
·系统初始化程序设计 | 第43-44页 |
·传感信号检测以及报警程序设计 | 第44页 |
·花型解析编织提花控制程序设计 | 第44-50页 |
·编织状态下的整体工作流程 | 第45-46页 |
·基于 FSMC 的 Flash 存储器驱动程序 | 第46-48页 |
·花型解析程序 | 第48-49页 |
·选针器刀动作控制程序 | 第49-50页 |
·针位编码脉冲同步程序设计 | 第50-52页 |
·以太网通讯程序设计 | 第52-54页 |
·STM32F407 以太网控制器配置 | 第52-53页 |
·以太网通讯程序 | 第53-54页 |
·选针驱动 VHDL 程序设计 | 第54-55页 |
·选针驱动 VHDL 程序 | 第54-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第五章 控制系统调试与测试结果分析 | 第56-70页 |
·降压型 DC-DC 电源模块测试与分析 | 第56-58页 |
·带负载的 TPS54327 电源模块测试平台搭建 | 第56页 |
·DC-DC 模块关键器件对输出纹波的影响实测与调整 | 第56-58页 |
·基于 PWM 控制的可调电压电路测试与分析 | 第58-62页 |
·在不同 PWM 输入频率下光耦传输性能测试 | 第58-59页 |
·光耦前后端不同参数匹配设计的信号传输实测分析 | 第59-60页 |
·PWM 占空比与直流电平输出的宽范围对应测试 | 第60-62页 |
·选针器驱动模块测试与分析 | 第62-65页 |
·选针器控制时序测试 | 第62页 |
·单路选针器驱动模块带负载驱动能力以及驱动电流需求测试 | 第62-64页 |
·选针器驱动性能测试结论 | 第64-65页 |
·外扩 Flash 存储模块测试与分析 | 第65-66页 |
·指定空间读写测试 | 第65-66页 |
·连续空间区域片读写测试 | 第66页 |
·以太网通讯测试与分析 | 第66-68页 |
·控制系统联机测试 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-70页 |
第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
·总结 | 第70页 |
·展望 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-75页 |
攻读学位期间的研究成果 | 第75-76页 |
致谢 | 第76页 |