| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 主要符号表 | 第9-10页 |
| 1 绪论 | 第10-22页 |
| ·超细键合丝的研发 | 第10页 |
| ·单晶连铸技术的研究进展 | 第10-13页 |
| ·单晶连铸技术的基本原理 | 第11页 |
| ·单晶连铸设备的研制状况 | 第11-12页 |
| ·单晶连铸技术的成型工艺 | 第12页 |
| ·单晶连铸金属线材轴向晶体学方向的变化 | 第12-13页 |
| ·面心立方金属形变组织的演变规律 | 第13-16页 |
| ·面心立方金属形变组织的演变 | 第13-15页 |
| ·面心立方金属形变组织与晶体学取向的相关性 | 第15-16页 |
| ·电子背散射衍射分析技术简介 | 第16-18页 |
| ·EBSD的基本原理 | 第16-18页 |
| ·EBSD技术在形变组织分析中的应用 | 第18页 |
| ·电解抛光技术简介 | 第18-20页 |
| ·电解抛光的基本原理 | 第19页 |
| ·影响试样表面质量的电解抛光因素 | 第19-20页 |
| ·研究意义及主要研究内容 | 第20-21页 |
| ·本文的研究意义 | 第20-21页 |
| ·主要研究内容 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 2 实验过程 | 第22-29页 |
| ·研究对象 | 第22页 |
| ·实验材料 | 第22页 |
| ·研究方案 | 第22-23页 |
| ·高真空定向凝固设备及其制备确定取向单晶银线材的一般工艺 | 第23-24页 |
| ·冷拔变形 | 第24-27页 |
| ·金属线材的冷拔变形原理及其装置 | 第24-26页 |
| ·<110>单晶银线材冷拔变形的工艺 | 第26-27页 |
| ·组织分析 | 第27-28页 |
| ·分析试样的制备 | 第27-28页 |
| ·TEM分析 | 第28页 |
| ·EBSD分析 | 第28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 3 银试样电解抛光工艺的研究 | 第29-37页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·试验材料与方法 | 第29页 |
| ·银试样电解抛光液配方的选择 | 第29-33页 |
| ·电解抛光工艺的优化 | 第33-36页 |
| ·温度对银试样抛光质量的影响 | 第33页 |
| ·电压对银透射试样抛光质量的影响 | 第33-35页 |
| ·TEM和EBSD样品制备工艺的差异 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 4 确定取向单晶银试样制备工艺的研究 | 第37-48页 |
| ·引言 | 第37页 |
| ·籽晶的制备 | 第37-39页 |
| ·定向凝固设备固液界面的确定 | 第39-41页 |
| ·籽晶法制备单晶 | 第41-47页 |
| ·籽晶法制备单晶的原理以及坩埚的设计 | 第41页 |
| ·单晶的制备工艺和取向表征 | 第41-44页 |
| ·优化单晶制备工艺 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 <110>取向单晶银试样冷拔形变组织及织构的演变 | 第48-63页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·实验方法 | 第48-49页 |
| ·<110>取向单晶银试样形变织构的演变规律 | 第49-55页 |
| ·反极图成像 | 第49-50页 |
| ·反极图 | 第50-52页 |
| ·极图 | 第52-55页 |
| ·<110>取向单晶银试样微观组织的演化 | 第55-59页 |
| ·界面失配角 | 第59-61页 |
| ·结果与讨论 | 第61-62页 |
| ·织构的演变 | 第61页 |
| ·微观组织演变 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 6 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |