一种OTP存储器读出系统的设计技术研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-9页 |
第一章 引言 | 第9-13页 |
·背景介绍 | 第9-10页 |
·国内外研究现状 | 第10-11页 |
·研究意义 | 第11-12页 |
·论文结构与相关工作 | 第12-13页 |
第二章 OTP存储器介绍 | 第13-19页 |
·存储器发展与分类 | 第13-14页 |
·OTP结构 | 第14-17页 |
·OTP击穿原理 | 第17-18页 |
·OTP用作存储单元 | 第18-19页 |
第三章 OTP存储器读出系统的设计及仿真 | 第19-46页 |
·OTP存储器结构 | 第19-21页 |
·读出系统的设计及仿真 | 第21-40页 |
·译码器与地址检测电路设计及仿真 | 第22-28页 |
·译码器电路设计及仿真 | 第22-25页 |
·地址检查电路设计及仿真 | 第25-28页 |
·脉冲宽度调整电路与控制信号产生电路设计及仿真 | 第28-34页 |
·脉冲宽度调整电路设计及仿真 | 第28-33页 |
·控制信号产生电路设计及仿真 | 第33-34页 |
·灵敏放大器电路设计及仿真 | 第34-38页 |
·第二级DICE锁存电路设计及仿真 | 第38-40页 |
·双向数据端口设计及仿真 | 第40-43页 |
·全芯片读出电路的仿真 | 第43-46页 |
第四章 版图设计与寄生参数提取及后仿真 | 第46-59页 |
·版图设计 | 第46-49页 |
·寄生参数提取 | 第49-52页 |
·后仿真 | 第52-59页 |
第五章 芯片测试 | 第59-64页 |
·测试方法与测试平台 | 第59-61页 |
·读出系统的测试 | 第61-63页 |
·对读出系统的功能进行测试 | 第61页 |
·对读出系统的速度进行测试 | 第61-63页 |
·测试结果 | 第63页 |
·测试结论 | 第63-64页 |
第六章 结论与展望 | 第64-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-70页 |
攻读硕士期间取得的研究成果 | 第70页 |