| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 前言 | 第8-15页 |
| 参考文献 | 第13-15页 |
| 第二章 实验现状和基础理论 | 第15-54页 |
| ·Guiding-effect的发现 | 第15-18页 |
| ·实验现状 | 第18-35页 |
| ·HCIs与Ni微孔膜相互作用的研究 | 第18-20页 |
| ·HCIs与PET微孔膜相互作用的研究 | 第20-26页 |
| ·HCIs、低能电子束与SiO_2微孔膜相互作用的研究 | 第26-29页 |
| ·HCIs与Al_2O_3微孔膜相互作用的研究 | 第29-35页 |
| ·基础理论 | 第35-49页 |
| ·半经验模型 | 第35-39页 |
| ·经典传输理论(Classical Transport Theory,CTT) | 第39-49页 |
| 参考文献 | 第49-54页 |
| 第三章 实验技术与方法 | 第54-65页 |
| ·实验装置 | 第54-55页 |
| ·透射离子束电荷态分析 | 第55-59页 |
| ·MCP探测器的位置刻度 | 第59页 |
| ·电子学与数据获取系统 | 第59-61页 |
| ·实验条件及参数 | 第61-62页 |
| ·Al_2O_3微孔膜的制备 | 第62-63页 |
| ·镀膜技术的应用 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-65页 |
| 第四章 10～18keVO~-负离子与Al_2O_3微孔膜相互作用的研究 | 第65-91页 |
| ·SEM扫描实验中所用的Al_2O_3微孔膜 | 第66-68页 |
| ·O~-与Al_2O_3微孔膜相互作用的角分布 | 第68-73页 |
| ·10～18keVO~-与微孔膜M1相互作用的角分布 | 第68-69页 |
| ·12～18keVO~-与微孔膜M2相互作用的角分布 | 第69-71页 |
| ·12～18keVO~-与微孔膜M3相互作用的角分布 | 第71-73页 |
| ·相对透过率 | 第73-75页 |
| ·O~-穿过微孔膜后透射离子电荷态分析 | 第75-85页 |
| ·10～18keVO~-穿过微孔膜M1的电荷态分析 | 第75-78页 |
| ·12～18keVO~-穿过微孔膜M2的电荷态分析 | 第78-81页 |
| ·12～18keVO~-穿过微孔膜M3的电荷态分析 | 第81-85页 |
| ·O~-穿过微孔膜的半高宽 | 第85-90页 |
| ·10～18keVO~-穿过微孔膜M1的半高宽 | 第85-86页 |
| ·12～18keVO~-穿过微孔膜M2的半高宽 | 第86-88页 |
| ·12～18keVO~-穿过微孔膜M3的半高宽 | 第88-90页 |
| ·小结 | 第90-91页 |
| 第五章 总结 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
| 发表论文 | 第93-94页 |
