| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题背景 | 第7-9页 |
| ·可测试性问题简介 | 第7-8页 |
| ·测试技术的发展动态 | 第8-9页 |
| ·课题的意义及主要工作 | 第9-11页 |
| ·课题的意义 | 第9页 |
| ·本文的主要工作 | 第9-11页 |
| 第二章 DRAM 内存测性技术与算法 | 第11-21页 |
| ·测试技术 | 第11-13页 |
| ·测试的基本概念 | 第11-12页 |
| ·测试技术的应用 | 第12-13页 |
| ·存储器测试技术 | 第13-14页 |
| ·DRAM 内存技术概述 | 第14-16页 |
| ·典型的DRAM 存储功能故障模型 | 第16-18页 |
| ·常用的DRAM 内存测试算法 | 第18-21页 |
| 第三章 改进型 Moving Inversion 内存测试算法 | 第21-27页 |
| ·DRAM 内存 Moving Inversion 算法 | 第21-23页 |
| ·改进型 Moving Inversion+算法 | 第23-25页 |
| ·DRAM 内存 Moving Inversion+算法编译 | 第25-27页 |
| 第四章 算法实现及实验结果 | 第27-35页 |
| ·实验设备介绍 | 第27-28页 |
| ·DDR2 UDIMM 内存基本参数 | 第28-30页 |
| ·MOVI+算法实现 | 第30-33页 |
| ·实验结果 | 第33-34页 |
| ·结论 | 第34-35页 |
| 参考文献 | 第35-36页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第36-37页 |
| 附录 | 第37-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 详细摘要 | 第50-52页 |
