摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·研究背景和意义 | 第7-8页 |
·研究背景 | 第7-8页 |
·研究意义 | 第8页 |
·国内外发展状况 | 第8-11页 |
·本文研究内容及论文结构 | 第11-13页 |
第二章 统计过程控制技术 | 第13-21页 |
·统计过程控制基本理论 | 第13-16页 |
·统计过程控制的概念 | 第13-14页 |
·统计过程变动的原因 | 第14-15页 |
·统计过程控制的两种状态 | 第15-16页 |
·统计过程控制工具—控制图 | 第16-18页 |
·控制图的理论基础 | 第16页 |
·控制图的组成 | 第16-18页 |
·控制图的两类错误 | 第18页 |
·自相关过程对控制图的影响 | 第18-21页 |
第三章 自相关过程控制方法 | 第21-35页 |
·自相关过程的识别 | 第21-24页 |
·自相关过程的定义 | 第21-22页 |
·自相关函数和偏相关函数 | 第22-24页 |
·自相关过程的模型结构 | 第24-27页 |
·修改控制界限法 | 第27-30页 |
·时间序列模式预测法—残差控制图 | 第30-33页 |
·时间序列模式法实施步骤 | 第30-31页 |
·残差的计算 | 第31-33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
第四章 SPC 与EPC 相结合的自相关过程控制方法 | 第35-41页 |
·工程过程控制 | 第35-38页 |
·EPC 基本原理 | 第35-36页 |
·EPC 与SPC 的比较 | 第36-38页 |
·EPC 工具—MMSE | 第38-39页 |
·SPC 整合EPC 法 | 第39-41页 |
·SPC 整合EPC 的基本框架 | 第39-40页 |
·实施步骤 | 第40-41页 |
第五章 仿真验证 | 第41-65页 |
·参数设定 | 第41-45页 |
·控制图的评价参数—平均链长 | 第41-43页 |
·三种控制图参数的设定 | 第43-44页 |
·假设条件 | 第44-45页 |
·在AR(1)模式下的比较 | 第45-54页 |
·以时间序列模式法处理自相关数据 | 第45-49页 |
·以EPC 整合SPC 法处理自相关数据 | 第49-52页 |
·两种处理结果的比较 | 第52-54页 |
·在AR(2)模式下的比较 | 第54-64页 |
·以时间序列模式法处理自相关数据 | 第54-58页 |
·以EPC 整合SPC 法处理自相关数据 | 第58-62页 |
·两种处理结果的比较 | 第62-64页 |
·结论 | 第64-65页 |
第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
·本文的主要工作 | 第65-66页 |
·需要进一步探讨和研究的问题 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
研究成果 | 第73-74页 |