质量控制与诊断技术及其在CIMS中的应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 导论 | 第11-14页 |
| ·研究背景 | 第11-13页 |
| ·问题的提出 | 第11页 |
| ·研究的重点和现状 | 第11-13页 |
| ·研究内容 | 第13页 |
| ·论文组织 | 第13-14页 |
| 第二章 质量控制及非正态分布对其影响研究 | 第14-21页 |
| ·质量控制中的过程定义及控制框图 | 第14-16页 |
| ·过程环境的不断变化 | 第16页 |
| ·常见的四种非正态分布对控制图影响研究 | 第16-21页 |
| 第三章 基于 SOM网络的过程建模研究 | 第21-32页 |
| ·SOM网络及其统计学特性 | 第21-27页 |
| ·基于 SOM网络的过程建模模拟 | 第27-32页 |
| 第四章 基于 EDA的变异源诊断研究 | 第32-39页 |
| ·EDA及其几种因数分析技术 | 第32-33页 |
| ·基于 EDA的变异源诊断算法 | 第33-39页 |
| ·过程变异来源结构 | 第33-35页 |
| ·基于 EDA的变异源诊断算法 | 第35-36页 |
| ·举例说明变异源诊断算法 | 第36-39页 |
| 第五章 过程异常诊断技术 | 第39-52页 |
| ·基于过程线性模型的方差变异诊断算法 | 第39-43页 |
| ·基于线性模型的特征值与特征向量 | 第39-40页 |
| ·健壮性强的诊断算法 | 第40-43页 |
| ·基于神经网络的控制图几何模式匹配技术 | 第43-46页 |
| ·基于协同分布式 NN的控制图几何模式匹配 | 第44-45页 |
| ·基于自组织 NN的控制图几何模式匹配 | 第45-46页 |
| ·基于谱系分析的控制图几何模式匹配研究 | 第46-52页 |
| ·傅立叶变换与频域分析 | 第46-48页 |
| ·基于谱系分析的诊断算法 | 第48-49页 |
| ·模拟案例分析 | 第49-52页 |
| 第六章 过程质量控制在 CIMS中的集成研究 | 第52-61页 |
| ·CIMS及其设计中的关键问题 | 第52-56页 |
| ·业务过程重组 | 第53页 |
| ·CIMS功能体系结构 | 第53-54页 |
| ·集成基础结构 | 第54-56页 |
| ·过程质量控制系统在 CIMS中的集成研究 | 第56-61页 |
| ·统一的电子信息平台 | 第56-57页 |
| ·关键质量特性与控制站的确定 | 第57-59页 |
| ·可变规模的 SODA应用系统方案 | 第59-61页 |
| 第七章 结论与展望 | 第61-62页 |
| ·论文工作总结 | 第61页 |
| ·进一步工作展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读学位期间发表的论文及参加的科研项目 | 第65页 |
