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12寸半导体测试厂自动化研究

摘要第1-3页
ABSTRACT第3-9页
1 绪论第9-14页
   ·研究动机第9-10页
   ·国内外现况分析第10-13页
   ·論文架構第13-14页
2 半导体晶圆生产系统自动化第14-27页
   ·ERP System (Enterprise Resource Planning)第15-19页
   ·CIM System (COMPUTER INTEGRATED MANUFACTURING)第19-25页
       ·MES System (Manufacturing Execution System)第20-22页
       ·YMS (Yield Management System)第22-23页
       ·Report System : 报表管理系统第23-25页
   ·EAP System (Equipment automation on-line system)第25-27页
3 12 寸半导体测试厂系统自动化之简介第27-38页
   ·芯片测试自动化流程第28-29页
   ·芯片测试资料自动化第29-33页
   ·测试机台自动化第33-38页
4 12 寸半导体测试厂自动化系统的研究第38-76页
   ·8 寸半导体测试厂测试机台自动化的困难与瓶颈第39-41页
   ·8 寸与 12 寸半导体测试厂测试机台之不同第41-44页
   ·12 寸半导体测试厂测试机台通讯协议的研究第44-60页
   ·12 寸半导体测试厂测试机台自动化通讯程序开发与测试第60-67页
   ·12 寸半导体测试厂测试机台自动化的困难与瓶颈第67-68页
   ·12 寸半导体测试厂测试机台自动化的解决方法第68-75页
   ·本章小结第75-76页
5 结论第76-78页
   ·研究发展成果第76-77页
   ·未来发展与研究方向第77-78页
参考文献第78-80页
致谢第80-81页
攻读学位期间发表的学术论文第81-84页
上海交通大学学位论文答辩决议书第84页

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