高压储能电容器绝缘失效机理及测试技术的研究
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-27页 |
| ·高压储能电容器的研究意义 | 第13-17页 |
| ·高功率脉冲电源的核心技术问题 | 第13-15页 |
| ·提高电容器储能密度的研究进展 | 第15-17页 |
| ·高压储能电容器失效问题的提出 | 第17-21页 |
| ·电容器失效曲线 | 第17-18页 |
| ·传统电气参数与寿命的关系 | 第18-21页 |
| ·电容器绝缘失效原因及其性能测试的研究现状 | 第21-25页 |
| ·影响绝缘介质寿命的因素 | 第21-22页 |
| ·电容器绝缘失效原因 | 第22-24页 |
| ·绝缘性能的局部放电测试 | 第24-25页 |
| ·本文的研究内容、目标与方法 | 第25-27页 |
| 第2章 高压储能电容器失效的原因 | 第27-38页 |
| ·电容器的工作特点 | 第27-30页 |
| ·电容器工作曲线 | 第27页 |
| ·大脉冲放电的特性 | 第27-29页 |
| ·大脉冲放电过程对绝缘性能的影响因素 | 第29-30页 |
| ·局部放电在大脉冲放电过程的作用 | 第30-32页 |
| ·局部放电产生的条件 | 第30-31页 |
| ·局部放电参量与缺陷的关系 | 第31-32页 |
| ·空间电荷在大脉冲放电过程的作用 | 第32-35页 |
| ·空间电荷引起聚合物老化的理论 | 第32-33页 |
| ·空间电荷对电容器介质老化的作用 | 第33页 |
| ·电容器介质的空间电荷测试 | 第33-35页 |
| ·热和应力在大脉冲放电过程的作用 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第3章 储能电容器局部放电测试方法的提出 | 第38-49页 |
| ·大脉冲放电与脉冲方波之间的关系 | 第38-40页 |
| ·大脉冲放电及脉冲方波的波形特点 | 第38-39页 |
| ·两种条件的区别与联系 | 第39-40页 |
| ·电压变化率du/dt与局部放电的关系 | 第40-42页 |
| ·高du/dt电压作用下复合绝缘的局部放电 | 第40-41页 |
| ·du/dt对局部放电位置的影响 | 第41-42页 |
| ·大脉冲放电下的局部放电特点 | 第42-44页 |
| ·大脉冲放电下的局部放电 | 第42-43页 |
| ·大脉冲放电下局部放电测试的局限性 | 第43-44页 |
| ·直流局部放电测试方法的提出 | 第44-48页 |
| ·直流局部放电的优势与劣势 | 第44-45页 |
| ·直流局部放电原理及其仿真 | 第45-48页 |
| ·本章小节 | 第48-49页 |
| 第4章 直流局部放电与电容器缺陷的关系 | 第49-65页 |
| ·高压储能电容器典型缺陷模型 | 第49-52页 |
| ·高压储能电容器的绝缘结构 | 第49-50页 |
| ·典型缺陷的分类及设计 | 第50-52页 |
| ·电容器典型缺陷的静电场仿真 | 第52-60页 |
| ·电容器仿真模型的建立 | 第53-54页 |
| ·典型缺陷的静电场仿真及分析 | 第54-60页 |
| ·单一绝缘缺陷的直流局部放电测试与分析 | 第60-63页 |
| ·单一绝缘缺陷模型 | 第60-61页 |
| ·直流局部放电测试回路 | 第61页 |
| ·直流局部放电测试结果与分析 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第5章 高压储能电容器直流局部放电测试分析系统 | 第65-77页 |
| ·直流局部放电测试系统 | 第66-71页 |
| ·测试系统基本结构及其灵敏度 | 第66-67页 |
| ·高灵敏度系统所需关键技术 | 第67-71页 |
| ·直流局部放电信号采集分析系统 | 第71-75页 |
| ·采集分析系统基本结构及特性 | 第71-72页 |
| ·直流局部放电信号的触发采集方式 | 第72-73页 |
| ·分析软件基本参量及其组成 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第6章 高压储能电容器直流局部放电测试及分析 | 第77-104页 |
| ·直流局部放电测试规则的确定 | 第77-81页 |
| ·测试电压的确定 | 第77页 |
| ·测试时间的确定 | 第77-81页 |
| ·典型缺陷电容器的局部放电测试结果与机理分析 | 第81-87页 |
| ·典型缺陷电容器的局部放电测试结果 | 第81-84页 |
| ·内部/油质缺陷物理参数与放电参量的关系 | 第84-87页 |
| ·高压储能电容器老化过程的局部放电测试与分析 | 第87-103页 |
| ·高压储能电容器老化回路 | 第87-88页 |
| ·直流局部放电测试结果与分析 | 第88-101页 |
| ·大脉冲放电作用下绝缘介质老化击穿的因素及过程 | 第101-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 第7章 结论 | 第104-106页 |
| 致谢 | 第106-107页 |
| 参考文献 | 第107-117页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文和科研成果 | 第117-119页 |