| 中文摘要 | 第1-6页 |
| ABSRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·发光材料 | 第10-12页 |
| ·纳米材料 | 第12-13页 |
| ·掺稀土纳米荧光粉研究现状 | 第13-15页 |
| ·掺稀土荧光粉研究现状 | 第13页 |
| ·Y2SiO5：Re3+纳米荧光粉研究现状 | 第13-15页 |
| ·纳米荧光粉常用的制备方法 | 第15-16页 |
| ·纳米材料的表征 | 第16-18页 |
| ·纳米材料形貌表征 | 第16-17页 |
| ·纳米发光材料光学性能表征 | 第17-18页 |
| ·纳米发光材料微结构表征 | 第18页 |
| ·本课题的研究内容和意义 | 第18-20页 |
| 第二章 基础理论 | 第20-39页 |
| ·稀土离子的光谱理论 | 第20-26页 |
| ·稀土元素的电子结构 | 第20-21页 |
| ·稀土离子的光谱项 | 第21-22页 |
| ·稀土离子的能级 | 第22-26页 |
| ·群论基础 | 第26-29页 |
| ·物体的对称性 | 第26页 |
| ·群的表示 | 第26-27页 |
| ·不可约表示 | 第27-28页 |
| ·转动的特征标 | 第28-29页 |
| ·光谱理论 | 第29-39页 |
| ·3j-6j符号 | 第29-31页 |
| ·拉卡张量算符 | 第31-32页 |
| ·稀土离子的光谱理论 | 第32-35页 |
| ·红外光谱 | 第35-36页 |
| ·发射光谱 | 第36-37页 |
| ·激发光谱 | 第37页 |
| ·反射光谱和吸收谱 | 第37-38页 |
| ·电荷转移跃迁 | 第38-39页 |
| 第三章 Y2SiO5：Eu3+纳米荧光粉的制备 | 第39-45页 |
| ·网络凝胶法制备样品 | 第39-42页 |
| ·溶胶—凝胶的制备 | 第39-40页 |
| ·网络凝胶的制备 | 第40-41页 |
| ·酒精网络—凝胶法 | 第41-42页 |
| ·凝胶燃烧合成法制备Y2SiO5：Eu3+荧光粉 | 第42-44页 |
| ·制备过程 | 第42-43页 |
| ·甘氨酸、炉温、煅烧温度等因素对反应及产物的影响 | 第43-44页 |
| ·X2晶相纳米Y2SiO5：RE的荧光粉的制备 | 第44-45页 |
| 第四章 Y2SiO5：Eu3+纳米荧光粉的表征与分析 | 第45-65页 |
| ·样品的粒度、形貌表征与分析 | 第45-52页 |
| ·样品的电镜和原子力测试分析 | 第45-48页 |
| ·样品的X射线衍射表征 | 第48-52页 |
| ·样品的光谱研究 | 第52-57页 |
| ·样品的紫外—可见反射光谱测试与分析 | 第52-53页 |
| ·样品的傅立叶红外光谱表征与分析 | 第53-57页 |
| ·Y2SiO5：Eu3+纳米荧光粉荧光光谱研究 | 第57-61页 |
| ·发射光谱和激发光谱分析 | 第57-60页 |
| ·Eu3+浓度对发光亮度的影响 | 第60页 |
| ·敏化剂Gd3+对发光亮度的影响 | 第60-61页 |
| ·Y2SiO5：Eu3+纳米荧光粉荧光光谱J-O理论分析 | 第61-65页 |
| ·Judd-Ofelt理论简介 | 第61-63页 |
| ·跃迁强度参数计算与分析 | 第63-65页 |
| 第五章 Y2SiO5：Eu3+纳米荧光粉的微结构分析 | 第65-78页 |
| ·微结构的分析 | 第65-73页 |
| ·结构解析的相角问题 | 第65-66页 |
| ·X1、X2型晶胞内离子的分布 | 第66-73页 |
| ·X1、X2型Y2SiO5格位1、2的微结构分析 | 第73-76页 |
| ·微结构与光谱强度之间的联系 | 第76-77页 |
| ·Y2SiO5：Eu3+的7FJ能级的分裂 | 第77-78页 |
| 第六章 总结 | 第78-80页 |
| 附件 | 第80-83页 |
| 参考文献 | 第83-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
