综合孔径微波辐射计星上外部校正方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-22页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-13页 |
| ·国内外研究概况 | 第13-20页 |
| ·论文研究内容及结构安排 | 第20-22页 |
| 2 综合孔径微波辐射计校正基础 | 第22-43页 |
| ·综合孔径微波辐射计基本成像原理 | 第22-25页 |
| ·综合孔径微波辐射计误差模型 | 第25-38页 |
| ·综合孔径微波辐射计星上校正 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 3 基于天体目标的辅助源校正方法 | 第43-57页 |
| ·引言 | 第43页 |
| ·天体源辐射特性以及校正可行性 | 第43-46页 |
| ·方法介绍 | 第46-50页 |
| ·仿真 | 第50-53页 |
| ·实验 | 第53-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 4 基于阵列旋转的自校正方法 | 第57-83页 |
| ·引言 | 第57页 |
| ·旋转校正方法原理 | 第57-60页 |
| ·基于180度阵列旋转的误差校正方法 | 第60-73页 |
| ·基于旋转自校正的阵列优化——V形阵 | 第73-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 5 基于多种场景的联合校正方法 | 第83-100页 |
| ·引言 | 第83页 |
| ·方法介绍 | 第83-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 6 全文总结与展望 | 第100-104页 |
| ·全文总结 | 第100-102页 |
| ·展望 | 第102-104页 |
| 致谢 | 第104-105页 |
| 参考文献 | 第105-117页 |
| 附录1 攻读博士期间发表的论文 | 第117-119页 |
| 附录2 攻读博士期间申请的专利 | 第119-120页 |
| 附录3 实验系统简介 | 第120-123页 |
| 附录4 关键结论推导 | 第123-124页 |
