| 第一章 绪论 | 第1-19页 |
| 1．1 本课题研究背景、目的与意义 | 第8页 |
| 1．2 国内外研究进展 | 第8-11页 |
| 1．3 相关理论与弱吸收检测方法 | 第11-14页 |
| 1．4 本论文主要内容及安排 | 第14-15页 |
| 参考文献 | 第15-19页 |
| 第二章 DF激光辐照下高反射薄膜温度场分布研究 | 第19-27页 |
| 2．1 光学薄膜温度场理论 | 第19-21页 |
| 2．2 3．8μm DF激光辐照下高反射薄膜样品的温度场分布 | 第21-25页 |
| 2．3 结论 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-27页 |
| 第三章 有限元法研究光学薄膜基底的温度场和热应力场 | 第27-49页 |
| 3．1 有限元分析软件MSC．Marc简介 | 第27-29页 |
| 3．2 光学薄膜基底温度场与热应力场的有限元法分析 | 第29-46页 |
| 3．2．1 激光光束辐照下光学薄膜基底的热传导与热弹方程 | 第29-30页 |
| 3．2．2 薄膜基底温升与热应力的有限元分析 | 第30-31页 |
| 3．2．2．1 薄膜基底温升的有限元分析 | 第30-31页 |
| 3．2．2．2 薄膜基底热应力的有限元分析 | 第31页 |
| 3．2．3 光学薄膜基底温度场与热应力场有限元计算模型的建立及计算结果 | 第31-46页 |
| 3．2．3．1 光学薄膜基底温度场与热应力场有限元计算模型的建立 | 第31-33页 |
| 3．2．3．2 光学薄膜基底温度场与热应力场计算结果 | 第33-46页 |
| 3．3 小结 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-49页 |
| 第四章 表面热透镜技术测量DF和HF激光薄膜的微弱吸收 | 第49-64页 |
| 4．1 表面热透镜技术相关理论 | 第49-56页 |
| 4．1．1 表面热透镜技术理论模型 | 第49-52页 |
| 4．1．2 热透镜单象限光电探测器基本理论 | 第52-54页 |
| 4．1．3 锁相分析仪基本原理 | 第54-56页 |
| 4．2 表面热透镜技术的测量原理 | 第56-57页 |
| 4．3 实验装置与测量结果 | 第57-61页 |
| 4．4 小结 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 第五章 全文总结 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录Ⅰ 攻读硕士期间与老师、同学合作发表的论文 | 第67-68页 |
| 附录Ⅱ 独创性声明及学位论文版权使用授权书 | 第68页 |
