前言 | 第1-11页 |
第一章 文献综述 | 第11-26页 |
·空分制氧技术简介 | 第11-12页 |
·低温精馏法 | 第11-12页 |
·变压吸附法 | 第12页 |
·薄膜分离法 | 第12页 |
·变压吸附空分制氧 | 第12-25页 |
·吸附的定义及类型 | 第12-13页 |
·吸附分离机理 | 第13页 |
·变压吸附空分制氧的原理 | 第13-14页 |
·变压吸附空分制氧的基本步骤 | 第14页 |
·变压吸附空分制氧的特点 | 第14页 |
·变压吸附空分制氧的工艺及其改进 | 第14-20页 |
·变压吸附空分制氧的工艺 | 第14-17页 |
·变压吸附空分制氧工艺的改进 | 第17-20页 |
·吸附剂性能的研究和改进 | 第20-22页 |
·CaA 及 NaX 吸附剂 | 第20-21页 |
·LiX 沸石分子筛 | 第21页 |
·锂交换的低硅八面沸石分子筛LiLSX | 第21页 |
·锂银混合离子沸石分子筛 | 第21-22页 |
·影响产品氧气浓度和回收率的因素 | 第22-23页 |
·操作时对称性对氧气浓度和回收率的影响 | 第22-23页 |
·环境温度对氧气浓度和回收率的影响 | 第23页 |
·PSA 空分制氧的经济性分析 | 第23页 |
·PSA空分制氧技术的发展状况及工业应用前景 | 第23-25页 |
·规模大型化领域 | 第24页 |
·规模小型化领域 | 第24-25页 |
·本课题的创新性 | 第25-26页 |
第二章 实验部分 | 第26-41页 |
·实验准备工作 | 第26-35页 |
·实验流程的确定 | 第26页 |
·吸附塔片尺寸的确定 | 第26-28页 |
·塔片自由空间体积以及产品氧缓冲罐体积的确定 | 第28-31页 |
·塔片自由空间体积的确定 | 第29-30页 |
·产品氧缓冲罐体积的确定 | 第30-31页 |
·实验原料和主要仪器 | 第31页 |
·主要仪器的校正 | 第31-33页 |
·压力传感器的校正 | 第31-32页 |
·热电偶的校正 | 第32-33页 |
·质量流量控制器的校正 | 第33页 |
·所用吸附剂的预处理 | 第33页 |
·EGA 高强度活性氧化铝 | 第33页 |
·ZMS-5A 沸石分子筛 | 第33页 |
·吸附曲线的测定 | 第33页 |
·氧气浓度、回收率、单位质量吸附剂产氧量和能耗的计算 | 第33-35页 |
·实验装置流程和实验内容 | 第35-40页 |
·实验装置流程 | 第35页 |
·实验内容 | 第35-40页 |
·穿透曲线的测定 | 第35-37页 |
·四塔变压吸附一般操作 | 第37-38页 |
·放空时间的测定 | 第38页 |
·环境温度对氧气浓度和回收率影响的测定 | 第38-39页 |
·均压时间对氧气浓度和氧气回收率影响的测定 | 第39页 |
·冲洗气量对氧气浓度和氧气回收率影响的测定 | 第39页 |
·冲洗时间对氧气浓度和氧气回收率影响的测定 | 第39页 |
·充压时间对氧气浓度和氧气回收率影响的测定 | 第39页 |
·两种不同均压方式的对比 | 第39页 |
·最佳操作时序下,不同吸附压力所对应的吸附时间下氧气的浓度、回收率、单位质量吸附剂产氧量和体系能耗的测定 | 第39-40页 |
·各设备特征参数、吸附剂物性数据及装填状况 | 第40-41页 |
第三章 结果分析与讨论 | 第41-74页 |
·298.15K 下氮气和氧气在 5A 沸石分子筛上的吸附等温线 | 第41-42页 |
·吸附塔穿透曲线的测定 | 第42-44页 |
·吸附压力和原料气流量的确定 | 第44-46页 |
·环境温度对氧气浓度、回收率、单位质量吸附剂产氧量和能耗的影响 | 第46-48页 |
·最佳时间参数的确定 | 第48-62页 |
·吸附时间的确定 | 第48-49页 |
·放空时间的确定 | 第49-50页 |
·均压时间的确定 | 第50-55页 |
·冲洗气量的确定 | 第55-57页 |
·冲洗时间的确定 | 第57-59页 |
·充压时间的确定 | 第59-61页 |
·小结 | 第61-62页 |
·本实验最佳均压方式的确定 | 第62-64页 |
·实验最佳操作时序 | 第64-65页 |
·最佳操作时序下变压吸附热效应对床层温度的影响 | 第65-68页 |
·最佳操作时序下,不同吸附压力以及不同吸附时间所对应的氧气浓度、回收率、单位质量吸附剂产氧量和能耗 | 第68-72页 |
·本实验设计的紧凑结构装置稳定性检验 | 第72-74页 |
结论 | 第74-76页 |
附录1 符号说明表 | 第76-78页 |
附录2 控制采集系统流程图 | 第78-79页 |
附录3 控制采集程序框图 | 第79-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
致谢 | 第84页 |