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弱荧光测试技术

中文摘要第1-5页
英文摘要第5-6页
第一章 课题背景和任务的提出第6-12页
 §1-1 蓄光型长余辉自发光材料简介第6-7页
 §1-2 蓄光型长余辉自发光材料应用第7-8页
 §1-3 蓄光型长余辉自发光材料测试的主要特征参量第8-9页
 §1-4 长余辉夜光粉的研究现状及课题的提出第9-12页
第二章 弱荧光测试理论第12-19页
 §2-1 荧光样品的测量原理和测色方法第12-15页
 §2-2 荧光测量照明和观察条件第15-17页
 §2-3 微弱信号检测理论第17-19页
第三章 弱荧光测试系统总体方案设计第19-31页
 §3-1 测量标准第19页
 §3-2 系统总体方案设计第19-20页
 §3-3 激发系统第20-21页
 §3-4 荧光探测系统第21-22页
 §3-5 光电倍增管第22-26页
  §3.5.1 原理与结构第22页
  §3.5.2 基本特性第22-24页
  §3.5.3 光电倍增管的供电第24页
  §3.5.4 光电倍增管的输出电路第24-26页
 §3-6 光学系统的结构形式与信号换算第26-29页
 §3-7 滤色片的匹配及修正第29-31页
第四章 弱荧光测试系统硬件设计第31-50页
 §4-1 光电转换和信号前置放大电路设计第32-36页
 §4-2 A/D转换电路设计第36-38页
 §4-3 液晶显示电路设计第38-45页
  §4.3.1 液晶模块JHD240128A简介第38-39页
  §4.3.2 液晶模块的软件特性第39-44页
  §4.3.3 8051与JHD240128A液晶模块的硬件接口第44-45页
 §4-4 RS-232串行通讯设计第45-48页
 §4-5 单片机外围接口电路总图第48-50页
第五章 弱荧光测试系统软件设计第50-62页
 §5-1 单片机软件开发环境概述第50-52页
 §5-2 C开发工具包第52-54页
 §5-3 单片机系统软件设计第54-62页
  §5.3.1 液晶显示的算法实现第55-59页
  §5.3.2 串口通讯软件的设计第59-62页
第六章 系统定标第62-64页
第七章 测量结果及系统误差分析第64-70页
 §7.1 实验装置和测试结果第64-67页
 §7.2 误差分析第67-70页
第八章 总结和展望第70-72页
参考文献第72-76页
致谢第76-77页
附录一第77-78页
附录二第78-79页
附录三第79页

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