电磁层析成像敏感场分析和图像重建算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究背景 | 第11-13页 |
| ·过程层析成像技术 | 第11-12页 |
| ·电磁层析成像技术 | 第12-13页 |
| ·电磁层析成像技术的发展概述 | 第13-15页 |
| ·电磁层析成像技术实体性研究的发展 | 第13-14页 |
| ·电磁层析成像技术算法研究的发展 | 第14-15页 |
| ·电磁层析成像技术的特点及应用前景 | 第15-16页 |
| ·本文的主要内容 | 第16-17页 |
| 第2章 电磁层析成像理论基础 | 第17-25页 |
| ·Radon变换和Radon逆变换 | 第17-18页 |
| ·EMT的基本原理 | 第18-20页 |
| ·EMT正问题数学模型 | 第20-22页 |
| ·EMT的逆问题 | 第22-23页 |
| ·EMT的系统结构和激励模式 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 基于有限元Ansoft软件的敏感场分析 | 第25-43页 |
| ·物场内磁场的仿真分析 | 第25-31页 |
| ·空场时物场内电磁分布情况 | 第25-26页 |
| ·不同材料对磁场的分布的影响 | 第26-31页 |
| ·激励线圈对磁场敏感场的影响 | 第31-34页 |
| ·线圈中电流大小对敏感场的影响 | 第31-32页 |
| ·线圈半径对敏感场的影响 | 第32-34页 |
| ·敏感场对检测电压的影响 | 第34-40页 |
| ·空场时检测线圈上的电压 | 第34-35页 |
| ·激励源频率对检测电压的影响 | 第35-37页 |
| ·不同材料物体对检测电压的影响 | 第37-40页 |
| ·物体在不同位置处的仿真分析 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于有限元解法的正问题求解 | 第43-57页 |
| ·二维场的有限元数值解法 | 第43-48页 |
| ·有限元概论 | 第43-44页 |
| ·有限元网格生成原则 | 第44-46页 |
| ·物场剖分 | 第46-48页 |
| ·有限元插值函数 | 第48-50页 |
| ·EMT数学模型的有限元求解 | 第50-55页 |
| ·有限元求解 | 第50-54页 |
| ·有限元后处理 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第5章 基于模拟退火方法的图像重建 | 第57-65页 |
| ·EMT的图像重建算法概述 | 第58-60页 |
| ·基于灵敏度系数的线性反投影算法 | 第58-59页 |
| ·牛顿拉夫逊方法 | 第59-60页 |
| ·模拟退火法 | 第60-62页 |
| ·图像重建仿真实验 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第6章 结论 | 第65-67页 |
| ·工作总结 | 第65页 |
| ·对未来工作的展望 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 攻读硕士期间参加的科研工作及发表的论文 | 第73页 |
