| 提要 | 第1-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| ·半导体激光器的产生与发展 | 第8-10页 |
| ·低频电噪声用于半导体激光器的可靠性表征 | 第10-13页 |
| ·半导体激光器1/f 噪声的检测技术 | 第13-16页 |
| ·课题来源及本论文的主要工作与创新点 | 第16-18页 |
| 第2章 半导体激光器的驱动及光电特性检测设备开发 | 第18-43页 |
| ·半导体激光器的驱动电源要求 | 第18-19页 |
| ·半导体激光器I-V 及光功率特性 | 第19-22页 |
| ·非线性扩散方程用于电导数的降噪 | 第22-27页 |
| ·非线性扩散方程及数值微分 | 第23-25页 |
| ·实验结果与分析 | 第25-27页 |
| ·基于 PCI-6014 的光电特性检测设备开发 | 第27-34页 |
| ·参数的提取 | 第28-29页 |
| ·系统组成与原理 | 第29-32页 |
| ·系统性能测试 | 第32-34页 |
| ·基于嵌入式系统的光电特性检测设备开发 | 第34-38页 |
| ·系统组成及设计 | 第34-37页 |
| ·测试结果 | 第37-38页 |
| ·SM35-45 用于激光器列阵的驱动与光电特性检测 | 第38-43页 |
| ·应用系统设计 | 第38-40页 |
| ·测试结果 | 第40-43页 |
| 第3章 半导体激光器1/f 噪声的检测及特性分析 | 第43-71页 |
| ·半导体器件低频电噪声基础 | 第43-48页 |
| ·g-r 噪声 | 第43-45页 |
| ·1/f 噪声 | 第45-48页 |
| ·1/f 噪声的模型 | 第48-53页 |
| ·表面载流子数涨落模型 | 第48-50页 |
| ·迁移率涨落模型 | 第50-53页 |
| ·半导体激光器的1/f 噪声与可靠性的关系 | 第53-58页 |
| ·半导体激光器的可靠性 | 第53-54页 |
| ·器件各部分对1/f 噪声的影响 | 第54-58页 |
| ·1/f 噪声的直接检测系统 | 第58-64页 |
| ·检测系统的硬件构成 | 第58-60页 |
| ·系统的屏蔽与接地技术 | 第60-61页 |
| ·数据的转换及参数的提取 | 第61-64页 |
| ·大功率半导体激光器的1/f 噪声的测试结果 | 第64-71页 |
| ·偏置电流的选择 | 第64-65页 |
| ·测试频率的选择 | 第65-66页 |
| ·实验结果分析 | 第66-71页 |
| 第4章 半导体激光器1/f 噪声的估计研究 | 第71-100页 |
| ·分形理论基础 | 第71-74页 |
| ·1/f 过程 | 第71-73页 |
| ·1/f 过程的小波变换表征 | 第73-74页 |
| ·小波变换的基本理论 | 第74-80页 |
| ·连续小波变换 | 第74-75页 |
| ·离散小波变换与二进制小波变换 | 第75-77页 |
| ·1/f 过程的二进制小波变换 | 第77-80页 |
| ·1/f 类分形信号的合成方法研究 | 第80-87页 |
| ·利用小波逆变换生成分形信号 | 第80-83页 |
| ·分数布朗运动与分数高斯噪声模型 | 第83-86页 |
| ·其它模型与方法 | 第86-87页 |
| ·加性白噪声背景下1/f 分形信号的参数与波形估计 | 第87-96页 |
| ·含噪1/f 类分形信号小波变换系数的特点 | 第87-89页 |
| ·最大似然参数估计 | 第89-91页 |
| ·最小二乘法参数与波形估计 | 第91-93页 |
| ·仿真实验结果与分析 | 第93-96页 |
| ·半导体激光器1/f 噪声的估计结果 | 第96-100页 |
| ·最小二乘估计方法的改进 | 第96页 |
| ·实验结果与分析 | 第96-100页 |
| 第5章 总结与展望 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-112页 |
| 致谢 | 第112-113页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及参与的课题 | 第113-116页 |
| 摘要 | 第116-119页 |
| Abstract | 第119-122页 |