| 提要 | 第1-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-30页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·非晶态材料概述 | 第8-10页 |
| ·非晶态合金的结构特点 | 第10-11页 |
| ·非晶态合金的制备 | 第11-13页 |
| ·非晶合金的热稳定性 | 第13页 |
| ·非晶合金磁化率相关理论 | 第13-18页 |
| ·非晶态合金电子输运理论 | 第18-28页 |
| ·衍射模型 | 第20-24页 |
| ·Mott s-d 电子散射 | 第24-25页 |
| ·双能级散射 | 第25-26页 |
| ·局域自旋涨落 | 第26-28页 |
| ·本论文的研究目的、出发点和内容 | 第28-30页 |
| 第二章 实验样品的制备和表征方法 | 第30-36页 |
| ·样品的制备 | 第30-31页 |
| ·原料的熔炼 | 第30-31页 |
| ·薄带的制备 | 第31页 |
| ·实验表征方法 | 第31-36页 |
| ·利用扫描电子显微镜测样品形貌 | 第31-32页 |
| ·X 射线衍射仪 | 第32-33页 |
| ·差示扫描量热法 | 第33-34页 |
| ·利用震动样品磁强计测样品磁性 | 第34页 |
| ·交流磁化率的测量 | 第34-35页 |
| ·低温电阻的测量 | 第35-36页 |
| 第三章 Tb 基、Gd 基非晶合金稳定性、磁性的研究 | 第36-48页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·非晶合金Tb 基和Gd 基样品的结构 | 第36-39页 |
| ·扫描电子显微镜观测样品表面及断面形貌 | 第36-38页 |
| ·X 射线衍射测量样品的内部结构 | 第38-39页 |
| ·Tb 基、Gd 基样品热稳定性的分析 | 第39-42页 |
| ·非晶态合金Tb_(53)Al_(24)Co_(20)Zr_3、Gd_(53)Al_(24)Co_(20)Zr_3 的磁性分析 | 第42-44页 |
| ·非晶合金Tb_(53)Al_(24)Co_(20)Zr_3、Gd_(53)Al_(24)Co_(20)Zr_3 低温磁化率的分析 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 Tb 基、Gd 基非晶合金低温电阻的研究 | 第48-59页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·非晶合金RE_(53)A1_(24)Co_(20)Zr_3 和RE_(33)Er_(22)Al_(25)Co_(20)（RE=Tb、Gd)低温电阻率的研究 | 第48-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-68页 |
| 摘要 | 第68-70页 |
| Abstract | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
