| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| ·背景 | 第11-12页 |
| ·项目实用价值 | 第12页 |
| ·国内外研究动态 | 第12-14页 |
| ·项目目标及论文内容 | 第14-15页 |
| 第二章 微波调相源技术要求、框图设计及指标分配 | 第15-21页 |
| ·微波调相源主要技术要求 | 第15页 |
| ·微波调相源原理框图设计 | 第15-16页 |
| ·对微波调相源各级功能电路的指标分配 | 第16-21页 |
| ·微波振荡源技术要求 | 第17页 |
| ·功分器技术要求 | 第17-18页 |
| ·微波调相电路技术要求 | 第18页 |
| ·微波放大器技术要求 | 第18-20页 |
| ·开关驱动电路技术要求 | 第20-21页 |
| 第三章 功能电路设计 | 第21-58页 |
| ·振荡器 | 第21-31页 |
| ·介质谐振器（DR） | 第21-27页 |
| ·介质谐振器晶体管振荡器（TDRO）电路的结构形式 | 第27-29页 |
| ·电路设计 | 第29-31页 |
| ·功分器 | 第31-39页 |
| ·二等分功分器设计 | 第31-34页 |
| ·不等分二分支功分器设计 | 第34-36页 |
| ·三等分功分器设计 | 第36-38页 |
| ·功分器实物测试结果 | 第38-39页 |
| ·放大器 | 第39-41页 |
| ·电路设计 | 第39-41页 |
| ·放大器实物测试结果 | 第41页 |
| ·调相器 | 第41-53页 |
| ·反射式移相器 | 第41-43页 |
| ·传输式移相器 | 第43-44页 |
| ·换接线段式移相器 | 第44-45页 |
| ·移相器电路的选择 | 第45-46页 |
| ·调相谱分析 | 第46-49页 |
| ·调相电路原理仿真 | 第49-51页 |
| ·调相电路板设计 | 第51-52页 |
| ·调相器实物测试结果 | 第52-53页 |
| ·开关驱动电路设计 | 第53-54页 |
| ·结构及电磁兼容设计 | 第54页 |
| ·结构设计 | 第54页 |
| ·电磁兼容设计 | 第54页 |
| ·可靠性设计 | 第54-58页 |
| ·电路可靠性设计 | 第55页 |
| ·元器件的选用 | 第55页 |
| ·元器件的降额设计 | 第55-57页 |
| ·功率器件的热设计 | 第57-58页 |
| 第四章 可靠性预计 | 第58-63页 |
| ·可靠性预计模型 | 第58-59页 |
| ·工作环境选择 | 第59页 |
| ·失效率计算 | 第59-62页 |
| ·砷化镓场效应管失效率 | 第59页 |
| ·隔离器失效率 | 第59-60页 |
| ·片式电阻器RM 系列失效率 | 第60页 |
| ·片式电容CT41L、穿芯电容CT52 系列失效率 | 第60页 |
| ·低噪声放大器HMC490LP5 失效率 | 第60页 |
| ·开关模块HMC547LP3 失效率 | 第60页 |
| ·三端稳压器失效率 | 第60-61页 |
| ·译码器SNJ54F138 失效率 | 第61页 |
| ·片式磁珠失效率 | 第61页 |
| ·连接器SMA-KFD、Y34MI-75H 失效率 | 第61页 |
| ·印制板失效率 | 第61页 |
| ·焊点失效率 | 第61-62页 |
| ·微波调相源总失效率 | 第62页 |
| ·微波调相源可靠度 | 第62页 |
| ·可靠性预计结论 | 第62-63页 |
| 第五章 测试及试验结果 | 第63-73页 |
| ·测试仪器 | 第63页 |
| ·测试方法 | 第63-65页 |
| ·输出功率测试方法 | 第63-64页 |
| ·载波抑制测试方法 | 第64页 |
| ·杂散及谐波抑制测试方法 | 第64-65页 |
| ·单边带噪声及频率稳定度测试方法 | 第65页 |
| ·解调信号上升、下降时间测试方法 | 第65页 |
| ·试验项目 | 第65-67页 |
| ·常温试验 | 第65-66页 |
| ·高温试验 | 第66页 |
| ·低温试验 | 第66页 |
| ·随机振动试验 | 第66-67页 |
| ·试验数据 | 第67页 |
| ·整机验证 | 第67页 |
| ·试验结果 | 第67-73页 |
| 第六章 总结 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 在学期间研究成果 | 第78-79页 |
