| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-26页 |
| ·SF_6 气体分解组分检测与分析的意义 | 第9-10页 |
| ·GIS 局部放电 | 第10-13页 |
| ·可能引起GIS 局部放电的原因 | 第10-11页 |
| ·GIS 内部主要缺陷类型 | 第11页 |
| ·GIS 局部放电检测方法 | 第11-13页 |
| ·SF_6 气体分解组分检测与分析的研究现状 | 第13-24页 |
| ·GIS 内部SF_6 分解原因 | 第14-15页 |
| ·SF_6 放电分解机理 | 第15-17页 |
| ·SF_6 放电分解气体组分检测方法 | 第17-19页 |
| ·故障与气体组分对应关系 | 第19-21页 |
| ·色谱数据处理技术 | 第21-24页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第24-26页 |
| 2 SF_6 气体分解组分分析试验研究 | 第26-39页 |
| ·SF_6 气体放电分解及分析试验 | 第26-32页 |
| ·SF_6 气体放电分解试验 | 第26-28页 |
| ·气相色谱仪构成和分析 | 第28-29页 |
| ·SF_6 气体放电分解及分析试验步骤 | 第29-32页 |
| ·针-板缺陷下SF_6 放电分解组分分析 | 第32-34页 |
| ·针-板缺陷下试验原理及条件 | 第32-33页 |
| ·针-板缺陷下试验数据分析 | 第33-34页 |
| ·微粒缺陷下SF_6 放电分解组分分析 | 第34-36页 |
| ·微粒缺陷下试验原理及条件 | 第34-35页 |
| ·自由金属微粒缺陷下试验数据分析 | 第35-36页 |
| ·两种缺陷下试验数据的对比分析 | 第36-37页 |
| ·两种缺陷下分解气体组分的对比分析 | 第36页 |
| ·两种缺陷下分解气体含量的对比分析 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 3 SF_6 气体分解组分色谱基线校正/背景扣除 | 第39-48页 |
| ·基于小波分析的背景扣除/基线校正 | 第39-42页 |
| ·小波分析基本原理 | 第40-41页 |
| ·背景扣除基本算法 | 第41-42页 |
| ·模拟色谱数据的背景扣除/基线校正 | 第42-44页 |
| ·不同小波函数与分解次数对计算结果的影响 | 第44-45页 |
| ·针-板缺陷下真实色谱数据的背景扣除/基线校正 | 第45-46页 |
| ·自由金属微粒缺陷下真实色谱数据的背景扣除/基线校正 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 4 SF_6 气体分解组分色谱重叠峰分离 | 第48-63页 |
| ·曲线拟合法重叠峰分离数学原理 | 第48-54页 |
| ·模拟函数的选择 | 第49页 |
| ·曲线拟合基本原理 | 第49-50页 |
| ·估算迭代次数 | 第50-51页 |
| ·调整策略和算法流程 | 第51-54页 |
| ·模拟色谱数据的重叠峰分离 | 第54-56页 |
| ·针-板缺陷下真实色谱数据的重叠峰分离 | 第56-58页 |
| ·自由金属微粒缺陷下真实色谱数据的重叠峰分离 | 第58-59页 |
| ·不同比例修正数据的影响 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 5 结论与展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 附录 | 第71页 |