低能望远镜探测器性能研究
内容提要 | 第1-8页 |
第1章 绪论 | 第8-16页 |
·X射线天文学 | 第8-14页 |
·X射线天文学发展简史和现状 | 第8-10页 |
·天体 X 射线的发射机制 | 第10页 |
·天体 X 射线的观测方法与探测技术 | 第10-14页 |
·硬 X 射线调制望远镜(HXMT) | 第14-16页 |
·HXMT 的科学目标 | 第14页 |
·HXMT 载荷配置 | 第14-15页 |
·HXMT 主要性能指标 | 第15-16页 |
第2章 SCD 探测器 | 第16-39页 |
·半导体探测器基本原理 | 第16-20页 |
·半导体的导电特性 | 第16页 |
·本征半导体与掺杂 | 第16-17页 |
·PN结的形成及偏压特性 | 第17-18页 |
·半导体探测器 X 射线探测原理 | 第18页 |
·“电离能”与法诺因子 | 第18-19页 |
·半导体探测器的噪声与辐射损伤 | 第19-20页 |
·SCD 探测器工作原理与噪声分析 | 第20-31页 |
·CCD 基本工作原理 | 第20-26页 |
·SCD 探测器介绍 | 第26-27页 |
·电荷的产生与读出 | 第27-29页 |
·SCD 探测器的噪声来源分析 | 第29-30页 |
·噪声对能量分辨的影响 | 第30页 |
·SCD 噪声抑制方法 | 第30-31页 |
·空间望远镜的辐射损伤分析 | 第31-39页 |
·空间自然辐射概况 | 第31-33页 |
·CCD 辐射损伤原理 | 第33-38页 |
·LE 辐射防护建议 | 第38-39页 |
第3章 低能 X 射线调制望远镜(LE)简介 | 第39-45页 |
·LE方案 | 第40-43页 |
·电子学方案 | 第40-42页 |
·结构方案 | 第42页 |
·准直器方案 | 第42-43页 |
·热控方案 | 第43页 |
·预研工作 | 第43-45页 |
第4章 SCD 探测器性能研究与测试 | 第45-70页 |
·研究目的 | 第45页 |
·SCD 探测器性能测试系统 | 第45-46页 |
·性能研究的内容、方法 | 第46-48页 |
·温度对 SCD 探测器性能的影响 | 第48-52页 |
·实验数据处理 | 第49-50页 |
·探测器性能与温度的关系 | 第50-52页 |
·工作电压对探测器性能的影响 | 第52-64页 |
·实验数据处理 | 第52-56页 |
·探测器性能与驱动时钟高电平的关系 | 第56-58页 |
·探测器性能与 Vod 的关系 | 第58-59页 |
·探测器性能与 Vog 的关系 | 第59-61页 |
·探测器性能与 Vss 的关系 | 第61-62页 |
·探测器性能与(Vss-IΦ)的关系 | 第62-63页 |
·信号幅度与(Vod-Vss)的关系 | 第63-64页 |
·探测器各性能之间的关系 | 第64-66页 |
·SCD 探测器的能量线性 | 第66-70页 |
·实验数据处理 | 第66-68页 |
·能量线性分析结论 | 第68-70页 |
第5章 结论 | 第70-73页 |
参考文献 | 第73-76页 |
附录 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
摘要 | 第78-81页 |
Abstract | 第81-83页 |