闪存存储器中的随机电报信号噪声的研究

摘要	第1-4页
Abstract	第4-7页
第一章 绪论	第7-10页
·研究意义	第7页
·国内外研究状况	第7-8页
·本文主要工作与结构安排	第8-10页
第二章 闪存存储器的基本理论	第10-20页
·闪存存储器的基本结构	第10-13页
·闪存存储器的基本工作原理	第13-20页
·读操作	第13-14页
·写操作	第14-17页
·写入和擦除操作	第17-20页
第三章 随机电报信号噪声	第20-37页
·随机电报信号噪声的产生机理	第20-25页
·陷阱	第20-22页
·界面态陷阱与氧化层陷阱	第22-24页
·陷阱的产生原理	第24-25页
·随机电报信号噪声	第25-31页
·随机电报信号噪声的基本原理	第25-29页
·器件尺寸的减小对随机电报信号噪声的影响	第29页
·写入擦除次数对随机电报信号噪声的影响	第29-31页
·快速傅立叶转换	第31-34页
·快速傅立叶转换的基本原理	第31-32页
·两个重要关系	第32页
·频率域的测量	第32-34页
·LABVIEW	第34-37页
·LabVIEW 的基本原理	第34-35页
·如何在LabVIEW 中配置快速傅立叶转换	第35-37页
第四章 闪存存储器中的随机电报信号噪声实验研究	第37-64页
·FINFET SONOS 闪存存储器	第37-38页
·实验的配置	第38-42页
·半导体参数分析器	第38-41页
·LabVIEW	第41-42页
·随机电报信号噪声的实验研究	第42-63页
·随机电报信号噪声的表征	第42-48页
·实验方法的改进	第48-56页
·不同的因素对随机电报信号噪声的影响	第56-63页
·本章总结	第63-64页
第五章 结论及展望	第64-66页
致谢	第66-67页
参考文献	第67-72页