| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-26页 |
| ·课题的背景及研究意义 | 第16-17页 |
| ·国内外研究现状 | 第17-22页 |
| ·泄漏电流法 | 第19-20页 |
| ·光谱法 | 第20页 |
| ·微波辐射法 | 第20页 |
| ·紫外脉冲法 | 第20-21页 |
| ·声发射法 | 第21页 |
| ·环境监测法 | 第21页 |
| ·红外成像法 | 第21-22页 |
| ·课题来源及主要研究内容 | 第22-25页 |
| ·课题来源 | 第22页 |
| ·研究目标 | 第22-23页 |
| ·课题的主要研究内容 | 第23-24页 |
| ·本文研究的创新点 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第2章 红外热像检测绝缘子污秽等级的原理及研究方案设计 | 第26-36页 |
| ·电力设备红外热像检测基本理论 | 第26-31页 |
| ·红外探测原理及红外热像仪介绍 | 第26-28页 |
| ·电力设备的主要发热模式 | 第28-30页 |
| ·红外热像检测与诊断的基本方法 | 第30-31页 |
| ·红外热像检测绝缘子污秽等级的原理 | 第31-32页 |
| ·总体研究方案设计 | 第32-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 湿污绝缘子发热模型研究 | 第36-46页 |
| ·引言 | 第36-37页 |
| ·绝缘子等效电路模型 | 第37-38页 |
| ·湿污绝缘子表面发热模型 | 第38-40页 |
| ·模型描述 | 第38-39页 |
| ·发热模型 | 第39页 |
| ·运行状态自动分类 | 第39-40页 |
| ·模型求解 | 第40页 |
| ·湿污绝缘子表面发热模型仿真分析 | 第40-44页 |
| ·干燥带产生条件 | 第40-41页 |
| ·电弧产生条件 | 第41-42页 |
| ·发热仿真计算 | 第42-43页 |
| ·仿真结果分析 | 第43-44页 |
| ·湿污绝缘子表面发热模型的试验验证 | 第44-45页 |
| ·试验设计 | 第44-45页 |
| ·试验结果及分析 | 第45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第4章 绝缘子红外热像处理研究 | 第46-78页 |
| ·绝缘子红外热像去噪 | 第46-63页 |
| ·小波变换原理及阈值去噪方法 | 第48-51页 |
| ·基于MAP 估计的平稳小波域局部自适应去噪方法 | 第51-57页 |
| ·基于MAP 估计的复小波域局部自适应去噪方法 | 第57-63页 |
| ·绝缘子红外热像分割 | 第63-72页 |
| ·图像分割基本理论 | 第63-66页 |
| ·绝缘子红外热像分割阈值提取方法 | 第66-70页 |
| ·绝缘子红外热像分割方法 | 第70-72页 |
| ·绝缘子半盘面区域提取 | 第72-76页 |
| ·最小二乘椭圆方程拟合原理 | 第73-75页 |
| ·基于椭圆拟合的绝缘子半盘面区域提取方法 | 第75页 |
| ·绝缘子半盘面区域提取试验结果 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-78页 |
| 第5章 绝缘子污秽等级检测研究 | 第78-100页 |
| ·绝缘子污秽等级红外热像检测视角影响分析 | 第78-82页 |
| ·试验数据获取 | 第78-79页 |
| ·污秽特征提取 | 第79-81页 |
| ·Fisher 准则 | 第81页 |
| ·视角影响分析 | 第81-82页 |
| ·基于方差分析的绝缘子污秽特征选择方法 | 第82-85页 |
| ·污秽特征提取 | 第83-84页 |
| ·方差分析原理 | 第84页 |
| ·污秽特征选择分析 | 第84-85页 |
| ·绝缘子污秽特征提取及污秽等级识别方法 | 第85-99页 |
| ·试验数据获取 | 第86-89页 |
| ·基于相对温度统计特征检测绝缘子污秽等级 | 第89-94页 |
| ·利用径向温度分布特征检测绝缘子污秽等级 | 第94-96页 |
| ·基于直方图特征检测现场污秽度等级 | 第96-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 结论 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-116页 |
| 致谢 | 第116-117页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第117-118页 |
| 附录B 攻读学位期间参与的科研项目与科研成果 | 第118页 |