计算机硬盘磁头的微加工工艺研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 1. 绪论 | 第8-13页 |
| ·选题背景及目的 | 第8-9页 |
| ·MEMS加工技术 | 第9-10页 |
| ·表面微加工技术 | 第9页 |
| ·体微加工技术 | 第9-10页 |
| ·微加工技术的历史及发展 | 第10-11页 |
| ·本课题的主要研究内容及意义 | 第11-13页 |
| 2 微加工技术基础 | 第13-28页 |
| ·微加工工艺常用材料 | 第13-15页 |
| ·光刻技术基本原理 | 第15-22页 |
| ·光刻胶 | 第15-17页 |
| ·曝光 | 第17-21页 |
| ·掩膜版 | 第21页 |
| ·光刻的基本过程 | 第21-22页 |
| ·刻蚀技术基本原理 | 第22-27页 |
| ·湿法刻蚀 | 第22-23页 |
| ·反应离子干法刻蚀(RIE) | 第23-25页 |
| ·感应耦合等离子刻蚀(ICP) | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 微加工基本实验的探索 | 第28-36页 |
| ·影响光刻质量的因素 | 第28-32页 |
| ·曝光时间对光刻质量的影响 | 第28-30页 |
| ·显影时间对光刻质量的影响 | 第30-32页 |
| ·影响ICP刻蚀的因素 | 第32-35页 |
| ·射频电源功率对刻蚀速率的影响 | 第32-34页 |
| ·气体流量对刻蚀速率的影响 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 4 交替复合深刻蚀工艺实验 | 第36-42页 |
| ·交替复合深刻蚀工艺原理 | 第36-38页 |
| ·交替复合深刻蚀工艺实验研究及分析 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 5 硬盘磁头的微加工实验及结果分析 | 第42-50页 |
| ·磁头掩膜版的制作 | 第43-47页 |
| ·二级台阶掩膜版的对准标记设计要求 | 第43-44页 |
| ·磁头的掩膜版的设计 | 第44-47页 |
| ·磁头的加工实验 | 第47-49页 |
| ·实验步骤及参数 | 第47-48页 |
| ·实验结果分析 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 结论与展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 申请学位期间的研究成果 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55页 |