| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-16页 |
| ·现场可编程门阵列FPGA 的概述 | 第10-12页 |
| ·FPGA 的简介 | 第10-11页 |
| ·FPGA 的国内外研究现状 | 第11页 |
| ·FPGA 的发展动向 | 第11-12页 |
| ·课题的提出 | 第12-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第12-14页 |
| ·边界扫描技术的国内外发展现状 | 第14页 |
| ·论文主要内容 | 第14-16页 |
| 第二章 边界扫描技术 | 第16-25页 |
| ·边界扫描技术的基本思想 | 第16-17页 |
| ·边界扫描设计硬件的结构和功能简介 | 第17-23页 |
| ·测试存取端口 | 第17-18页 |
| ·TAP 控制器 | 第18-21页 |
| ·指令寄存器 | 第21页 |
| ·数据寄存器 | 第21-23页 |
| ·边界扫描的测试类型、测试方法及工作方式 | 第23-24页 |
| ·边界扫描技术的特点与优势 | 第24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 FPGA 中边界扫描电路的设计 | 第25-54页 |
| ·测试存取端口 | 第25页 |
| ·测试逻辑结构和设计 | 第25-45页 |
| ·TAP 控制器的设计 | 第26-31页 |
| ·指令寄存器的设计 | 第31-36页 |
| ·数据寄存器的设计 | 第36-44页 |
| ·器件标识寄存器和用户编码寄存器 | 第36-39页 |
| ·旁路寄存器 | 第39页 |
| ·边界扫描寄存器 | 第39-44页 |
| ·TDO 驱动器 | 第44页 |
| ·JTAG 模块整体电路图 | 第44-45页 |
| ·仿真验证 | 第45-53页 |
| ·功能仿真与分析 | 第45-47页 |
| ·TAP 控制器功能仿真 | 第45-46页 |
| ·指令寄存器功能仿真 | 第46-47页 |
| ·边界扫描寄存器功能仿真 | 第47页 |
| ·时序仿真验证 | 第47-53页 |
| ·TDI、TMS 输入延迟 | 第47-49页 |
| ·TMS、TDI 建立时间和保持时间仿真 | 第49-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 JTAG 在FPGA 中相关应用的验证 | 第54-77页 |
| ·FPGA 边界扫描的仿真验证 | 第54-61页 |
| ·BYPASS 功能验证 | 第57-58页 |
| ·IDCODE/USECODE 功能验证 | 第58页 |
| ·边界扫描工作模式功能验证 | 第58-61页 |
| ·SAMPLE 指令验证 | 第59页 |
| ·关于EXTEST 和INTEST 指令的仿真 | 第59-61页 |
| ·利用边界扫描（JTAG）实现FPGA 的配置和回读 | 第61-75页 |
| ·FPGA 的配置与编程 | 第61-71页 |
| ·FPGA 配置与编程概述 | 第61-69页 |
| ·利用边界扫描（JTAG）配置FPGA 的仿真验证 | 第69-71页 |
| ·利用边界扫描（JTAG）实现FPGA 的回读 | 第71-75页 |
| ·利用边界扫描（JTAG）实现FPGA 回读的概述 | 第71-73页 |
| ·利用边界扫描（JTAG）回读FPGA 的仿真验证 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 第五章 结论 | 第77-79页 |
| ·工作总结 | 第77-78页 |
| ·项目展望 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第82-83页 |
