摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-7页 |
目录 | 第7-11页 |
第一章 综述 | 第11-35页 |
·引言 | 第11页 |
·原子光谱中的气体进样技术 | 第11-17页 |
·冷原子蒸气发生法 | 第12-13页 |
·氢化物发生法 | 第13页 |
·卤化物发生法 | 第13-14页 |
·烷基化发生法 | 第14-15页 |
·羰基化合物发生法 | 第15-16页 |
·氧化物发生法 | 第16页 |
·螯合物发生法 | 第16-17页 |
·化学蒸气发生(Chemical vapor generation,CVG)技术 | 第17-29页 |
·引言 | 第17-19页 |
·化学蒸气发生的机理研究 | 第19-23页 |
·新生态氢理论( Nascent Hydrogen Mechanism) | 第19-20页 |
·非新生态氢理论(Non-nascent Hydrogen Mechanism) | 第20-23页 |
·蒸气态物质的原子化机理 | 第23-24页 |
·过渡金属、贵金属的蒸气发生研究进展 | 第24-25页 |
·化学蒸气发生法分类 | 第25-26页 |
·蒸气发生装置的新技术 | 第26-27页 |
·蒸气发生法的干扰 | 第27-29页 |
·液相干扰 | 第28页 |
·气相干扰 | 第28-29页 |
·蒸气发生法在原子光谱分析中的应用 | 第29-33页 |
·蒸气发生用于原子吸收光谱(AAS)分析 | 第29-31页 |
·蒸汽发生用于原子荧光光谱(AFS)分析 | 第31-33页 |
·本文设想 | 第33-35页 |
第二章 CVG-AAS 分析痕量钯方法研究及应用 | 第35-49页 |
·引言 | 第35-36页 |
·试验部分 | 第36-38页 |
·仪器 | 第36页 |
·试剂 | 第36页 |
·仪器工作条件 | 第36页 |
·样品处理 | 第36-37页 |
·土壤样品的处理 | 第36-37页 |
·催化剂样品的处理 | 第37页 |
·试验方法 | 第37-38页 |
·结果与讨论 | 第38-47页 |
·增敏剂的选择 | 第38-39页 |
·钯蒸气发生机理探讨 | 第39-42页 |
·钯、配体(DDTC)及络合物(DDTC-Pd)的吸收光谱 | 第39-40页 |
·不同浓度的Pd~(2+)与DDTC 络合物的吸光度 | 第40-41页 |
·钯蒸气态物质的生成机理 | 第41-42页 |
·钯蒸气态物质的原子化机理探讨 | 第42-43页 |
·分析条件的优化 | 第43-45页 |
·样品及还原剂流速 | 第43页 |
·介质酸度 | 第43-44页 |
·还原剂浓度 | 第44-45页 |
·载气流量 | 第45页 |
·反应管长度 | 第45页 |
·干扰试验 | 第45-46页 |
·工作曲线 | 第46页 |
·样品分析 | 第46-47页 |
·土壤样品的分析及回收率实验 | 第46页 |
·催化剂样品分析及回收率实验 | 第46-47页 |
·本章小节 | 第47-49页 |
第三章 萃取/反萃取预分离富集-AFS 法测定废水中痕量钯的方法研究 | 第49-61页 |
·引言 | 第49-50页 |
·实验部分 | 第50-52页 |
·仪器 | 第50-51页 |
·试剂 | 第51页 |
·样品预处理 | 第51页 |
·试验方法 | 第51页 |
·标准系列制备 | 第51-52页 |
·结果与讨论 | 第52-60页 |
·仪器参数的优化 | 第52-54页 |
·灯电流的影响 | 第52页 |
·载气流速的影响 | 第52-53页 |
·屏蔽气流速的影响 | 第53页 |
·原子化器温度的影响 | 第53页 |
·原子化器高度的影响 | 第53-54页 |
·萃取富集条件选择 | 第54-56页 |
·萃取体系中pH 的影响 | 第54页 |
·络合剂用量的选择 | 第54页 |
·反萃取酸度的选择 | 第54-55页 |
·萃取时间对钯萃取性能的影响 | 第55页 |
·DDTC- MIBK 萃取钯的相比试验 | 第55-56页 |
·分析条件的优化 | 第56-59页 |
·样品酸度的影响 | 第56页 |
·载流酸度的影响 | 第56-57页 |
·DDTC 对荧光强度的增敏效应 | 第57-58页 |
·样品及载流流速的影响 | 第58页 |
·还原剂浓度的影响 | 第58-59页 |
·标准曲线的线性关系 | 第59页 |
·干扰试验 | 第59页 |
·样品分析及回收率实验 | 第59-60页 |
·本章小结 | 第60-61页 |
参考文献 | 第61-68页 |
论文发表情况 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |