| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·课题研究背景 | 第12-14页 |
| ·国内外现状 | 第14-16页 |
| ·研究意义 | 第16页 |
| ·论文章节安排 | 第16-18页 |
| 第二章 AOI 系统的硬件平台设计 | 第18-32页 |
| ·AOI 系统的工作原理及功能分析 | 第18-20页 |
| ·工作原理 | 第18-19页 |
| ·功能分析 | 第19-20页 |
| ·方案选择 | 第20页 |
| ·图像采集部分 | 第20-25页 |
| ·摄像机 | 第20-23页 |
| ·工业镜头 | 第23-25页 |
| ·运动平台部分 | 第25-26页 |
| ·步进电机 | 第25-26页 |
| ·支撑平台和X-Y 轴导轨 | 第26页 |
| ·电气控制部分 | 第26-30页 |
| ·光源 | 第26-29页 |
| ·PLC | 第29-30页 |
| ·实验平台搭建 | 第30页 |
| ·本章小结 | 第30-32页 |
| 第三章 基于HALCON 的SMT 产品缺陷检测算法研究 | 第32-64页 |
| ·HALCON 软件简介 | 第32-33页 |
| ·AOI 系统的检测流程 | 第33-35页 |
| ·创建模板阶段 | 第33-34页 |
| ·模式识别阶段 | 第34-35页 |
| ·图像采集 | 第35页 |
| ·形状特征及其匹配 | 第35-43页 |
| ·形状特征和描绘子 | 第35-37页 |
| ·基于形状特征的匹配 | 第37页 |
| ·匹配策略 | 第37-38页 |
| ·相似性测度(similarity measure) | 第38-39页 |
| ·HALCON 中的图像四种匹配技术 | 第39-43页 |
| ·基于灰度的匹配（Gray-Value-Vased Matching） | 第39页 |
| ·基于形状特征的匹配（Shape-Based Matching） | 第39-42页 |
| ·基于组件的匹配（Component-Based Matching） | 第42-43页 |
| ·基于点的匹配（Component-Based Matching） | 第43页 |
| ·图像拼接 | 第43-47页 |
| ·仿射变换矩阵 | 第44-45页 |
| ·SMT 产品分区图像拼接 | 第45-47页 |
| ·图像对准 | 第47-54页 |
| ·图像对准流程分析 | 第47-48页 |
| ·Mark 点识别 | 第48-54页 |
| ·图像分割 | 第48-51页 |
| ·Mark 点识别的三种方法 | 第51-53页 |
| ·三种方法的分析及比较 | 第53-54页 |
| ·SMT 产品的各种缺陷及其检测算法的研究 | 第54-62页 |
| ·常见SMT 元件 | 第54-55页 |
| ·常见缺陷 | 第55-56页 |
| ·匹配检测流程分析 | 第56-59页 |
| ·Blob 分析 | 第59-60页 |
| ·实验结果及影响检测因素的分析 | 第60-62页 |
| ·本章小节 | 第62-64页 |
| 第四章 AOI 检测系统软件设计 | 第64-80页 |
| ·软件系统设计 | 第64-65页 |
| ·系统目标 | 第64-65页 |
| ·系统功能模块分析 | 第65页 |
| ·功能模块实现 | 第65-78页 |
| ·编程环境的生成 | 第65-67页 |
| ·加入函数库和头文件 | 第66页 |
| ·由HALCON 文件生成CPP 文件 | 第66-67页 |
| ·图像采集和显示模块 | 第67-69页 |
| ·运动控制模块 | 第69-73页 |
| ·检测算法模块 | 第73页 |
| ·数据库管理模块 | 第73-78页 |
| ·交互界面设计 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 总结与展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第86-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
