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条纹结构光三维测量中多频相位展开与高亮抑制方法研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
第1章 绪论第15-31页
    1.1 研究背景及意义第15-16页
    1.2 相位抽取与展开的研究现状第16-27页
        1.2.1 相位抽取方法现状第18-24页
        1.2.2 相位展开方法研究第24-27页
    1.3 高亮抑制方法的国内外研究现状第27-29页
        1.3.1 基于软件处理的高亮抑制方法第27-28页
        1.3.2 基于硬件处理的高亮抑制方法第28-29页
    1.4 主要研究内容第29-31页
第2章 双频条纹时间相位展开方法研究第31-51页
    2.1 引言第31页
    2.2 单频条纹包裹相位抽取方法第31-34页
        2.2.1 包裹相位抽取原理第31-32页
        2.2.2 包裹相位抽取误差第32-34页
    2.3 双频条纹时间相位展开及其误差第34-46页
        2.3.1 双频条纹时间相位展开原理第34-37页
        2.3.2 相位展开误差分析第37-46页
    2.4 三维测量与抗干扰能力验证仿真实验第46-50页
    2.5 本章小结第50-51页
第3章 双频模式时间相位展开方法及其对比第51-75页
    3.1 引言第51-52页
    3.2 双频分层相位展开原理及误差第52-59页
    3.3 双频外差相位展开原理及误差第59-63页
    3.4 双频数论相位展开原理及误差第63-65页
    3.5 错位双频条纹结构光相位展开原理及误差分析第65-69页
    3.6 双频模式时间相位展开方法对比分析及仿真实验第69-74页
    3.7 本章小结第74-75页
第4章 三频条纹结构光相位展开方法研究第75-90页
    4.1 引言第75页
    4.2 三频条纹结构光相位展开方法第75-79页
    4.3 无误差展开容限分析第79-83页
    4.4 等效波长确定与组合波长优化第83-88页
        4.4.1 三组条纹等效波长计算第83-84页
        4.4.2 组合波长优化设计第84-88页
    4.5 三维测量与抗干扰能力验证仿真实验第88-89页
    4.6 本章小结第89-90页
第5章 条纹结构光高亮抑制方法研究第90-103页
    5.1 引言第90页
    5.2 基于扩散板的高亮抑制方法第90-97页
        5.2.1 基于扩散板的实验平台设计第90-91页
        5.2.2 强反射表面测量系统中扩散板的选取第91-94页
        5.2.3 线性扩散板抑制高亮原理分析第94-97页
    5.3 反射分量分离理论与像素填补方法相结合的高亮抑制方法第97-102页
        5.3.1 高亮像素的位置确定第98-99页
        5.3.2 基于优先级的像素填补方法第99-102页
    5.4 本章小结第102-103页
第6章 三维测量与高亮抑制实验研究第103-119页
    6.1 引言第103页
    6.2 三维测量实验第103-113页
        6.2.1 平面第105-107页
        6.2.2 解析物体组合第107-108页
        6.2.3 石膏像第108-111页
        6.2.4 微观浮雕第111-113页
    6.3 高亮抑制实验第113-116页
        6.3.1 基于扩散板的高亮抑制第113-115页
        6.3.2 反射分量分离与优先级的像素填补结合的高亮抑制第115-116页
    6.4 本章小结第116-119页
结论第119-121页
参考文献第121-133页
攻读学位期间发表的学术论文第133-135页
致谢第135页

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