摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-20页 |
1.1 选题背景与意义 | 第9-10页 |
1.2 高档数控系统论述 | 第10-13页 |
1.2.1 先进数控系统的技术现状 | 第10-12页 |
1.2.2 高档数控系统的发展趋势 | 第12-13页 |
1.3 数控系统中现场总线的发展现状 | 第13-18页 |
1.3.1 多种现场总线技术标准在数控系统中共存 | 第13-17页 |
1.3.2 现场总线在我国数控系统中的发展 | 第17-18页 |
1.4 课题的来源与研究内容 | 第18-20页 |
第二章 基于现场总线的数控系统体系结构 | 第20-26页 |
2.1 基于R5485 总线和工业以太网总线的体系构架 | 第20-21页 |
2.2 数控系统中现场总线接口的整体框架 | 第21-25页 |
2.2.1 数控系统中R5485 总线接口整体框架 | 第21-23页 |
2.2.2 数控系统中工业以太网总线接口整体框架 | 第23-25页 |
2.3 本章总结 | 第25-26页 |
第三章 R5485 串行总线接口设计与开发 | 第26-54页 |
3.1 引言 | 第26页 |
3.2 R5485 总线接口的总体设计 | 第26-28页 |
3.3 R5485 总线接口硬件模块设计 | 第28-41页 |
3.3.1 PC104 总线模块 | 第29-30页 |
3.3.2 FPGA 模块 | 第30-37页 |
3.3.3 UART 模块 | 第37-38页 |
3.3.4 R5485 总线转化模块 | 第38页 |
3.3.5 FPGA 固件程序和板卡调试 | 第38-41页 |
3.4 控制面板总线接口模块设计 | 第41-44页 |
3.4.1 基于AT89S52 单片机的扫描板卡的设计 | 第41-42页 |
3.4.2 AT89S52 中固件程序的设计 | 第42-44页 |
3.5 总线接口驱动设计开发 | 第44-53页 |
3.5.1 RTX 开发环境 | 第45页 |
3.5.2 基于RTX 的驱动程序的开发 | 第45-53页 |
3.6 本章总结 | 第53-54页 |
第四章 工业以太网总线接口的设计与开发 | 第54-70页 |
4.1 应用于数控系统的工业以太网技术问题分析 | 第54-57页 |
4.1.1 同步性问题 | 第54-55页 |
4.1.2 实时性问题 | 第55-56页 |
4.1.3 可靠性问题 | 第56页 |
4.1.4 以太网实时同步通信技术 | 第56-57页 |
4.2 以太网总线接口的总体框架 | 第57-58页 |
4.3 以太网总线接口的硬件设计 | 第58-66页 |
4.3.1 DSP + FPGA + LXT973 的体系结构 | 第58-60页 |
4.3.2 DSP 为总线控制器 | 第60-61页 |
4.3.3 FPGA 实现MAC 层协议 | 第61页 |
4.3.4 LXT973 作为物理层芯片 | 第61-63页 |
4.3.5 RJ45 接口电路与光纤接口电路的设计 | 第63-65页 |
4.3.6 硬件平台的搭建与调试 | 第65-66页 |
4.4 基于DSP+FPGA 的以太网MAC 层协议开发 | 第66-69页 |
4.4.1 MAC 层协议的总体框架 | 第66-67页 |
4.4.2 MAC 层协议层帧定义 | 第67-68页 |
4.4.3 DSP 用户层协议的实现 | 第68-69页 |
4.5 本章总结 | 第69-70页 |
第五章 总线接口实验平台的搭建及其实验结果 | 第70-78页 |
5.1 GSK27i 双通道五轴联动高档数控系统面板总线产品开发及测试 | 第70-73页 |
5.1.1 实时性能的测试与分析 | 第71页 |
5.1.2 数据准确性能的测试与分析 | 第71-72页 |
5.1.3 稳定性能的测试与分析 | 第72-73页 |
5.2 工业以太网总线接口实验平台的搭建及其实验结果 | 第73-77页 |
5.2.1 工业以太网总线接口两节点实验平台的搭建 | 第73-74页 |
5.2.2 工业以太网总线接口两节点的实时性能测试 | 第74-75页 |
5.2.3 工业以太网总线接口两节点的可靠性能测试 | 第75-77页 |
5.3 本章总结 | 第77-78页 |
第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
6.1 主要结论 | 第78页 |
6.2 研究展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-83页 |
致谢 | 第83-84页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第84-85页 |
攻读学位期间参与的研究项目 | 第85-87页 |