| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 光开关的性能要求 | 第9页 |
| 1.3 国内外光开关的研究现状 | 第9-12页 |
| 1.3.1 传统机械式光开关 | 第9-10页 |
| 1.3.2 微电子机械式光开关 | 第10-11页 |
| 1.3.3 液晶光开关 | 第11页 |
| 1.3.4 热光效应开关 | 第11页 |
| 1.3.5 其它类型光开关 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文主要的工作 | 第12-14页 |
| 第二章 准直器的原理 | 第14-24页 |
| 2.1 准直器的设计原理 | 第14-17页 |
| 2.2 准直器的插入损耗 | 第17-22页 |
| 2.3 准直器的回波损耗 | 第22-24页 |
| 第三章 光开关的光路设计 | 第24-36页 |
| 3.1 光开关的应用 | 第24-25页 |
| 3.2 两种光路设计方案的比较 | 第25-29页 |
| 3.3 各光学件设计参数的确定 | 第29-36页 |
| 3.3.1 准直器设计参数的确定 | 第30-32页 |
| 3.3.1.1 束腰半径对插入损耗的影响 | 第30-31页 |
| 3.3.1.2 准直器设计参数的确定 | 第31页 |
| 3.3.1.3 角度偏离和横向错位对插入损耗的影响 | 第31-32页 |
| 3.3.2 反射镜的设计参数的确定 | 第32-33页 |
| 3.3.3 棱镜的设计参数的确定 | 第33-36页 |
| 第四章 光开关的工艺结构 | 第36-44页 |
| 4.1 光开关的封装结构 | 第36-39页 |
| 4.2 内部装配结构和关键的工艺过程 | 第39-44页 |
| 4.2.1 内部装配结构 | 第39-41页 |
| 4.2.2 工艺过程 | 第41-44页 |
| 第五章 性能测试与可靠性验证 | 第44-54页 |
| 5.1 性能测试 | 第44-50页 |
| 5.1.1 插入损耗(IL)测试 | 第44-47页 |
| 5.1.2 串扰的测试 | 第47-48页 |
| 5.1.3 重复性测试 | 第48页 |
| 5.1.4 回波损耗(RL)的测试 | 第48-49页 |
| 5.1.5 偏振相关损耗（PDL）的测试 | 第49页 |
| 5.1.6 开关时间的测试 | 第49-50页 |
| 5.2 可靠性测试 | 第50-54页 |
| 5.2.1 可靠性试验介绍 | 第50-52页 |
| 5.2.2 光开关的可靠性试验 | 第52-54页 |
| 第六章 总结 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57页 |