| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第1章:绪论 | 第11-32页 |
| 1.1 微结构气体探测器原理及应用 | 第12-19页 |
| 1.1.1 MicroMegas探测器原理 | 第12-14页 |
| 1.1.2 GEM探测器原理 | 第14-15页 |
| 1.1.3 THGEM探测器原理 | 第15-17页 |
| 1.1.4 微结构气体探测器的应用 | 第17-19页 |
| 1.2 微结构气体探测器的信号和性能 | 第19-22页 |
| 1.2.1 微结构气体探测器的读出信号 | 第19-21页 |
| 1.2.2 微结构气体探测器主要性能参数 | 第21-22页 |
| 1.3 微结构气体探测器读出方法 | 第22-27页 |
| 1.3.1 微结构气体探测器读出方式现状和研究 | 第22-23页 |
| 1.3.2 可减少电子学通道数的几种典型的读出方法 | 第23-27页 |
| 参考文献 | 第27-32页 |
| 第2章:位置编码读出方法及原理 | 第32-61页 |
| 2.1 位置编码读出研究现状 | 第33-34页 |
| 2.2 感应编码读出方法 | 第34-44页 |
| 2.2.1 原理及分析 | 第34-35页 |
| 2.2.2 编码与解码 | 第35-40页 |
| 2.2.3 分组感应编码 | 第40-41页 |
| 2.2.4 二维感应编码 | 第41-43页 |
| 2.2.5 感应编码小结 | 第43-44页 |
| 2.3 直接编码读出方法 | 第44-56页 |
| 2.3.1 原理及分析 | 第44-46页 |
| 2.3.2 编码与解码 | 第46-49页 |
| 2.3.3 多条击中的解码算法 | 第49-53页 |
| 2.3.4 中心法和电荷重心法 | 第53-55页 |
| 2.3.5 二维直接编码 | 第55页 |
| 2.3.6 直接编码小结 | 第55-56页 |
| 2.4 位置编码读出特点与电子学需求 | 第56-60页 |
| 2.4.1 位置编码读出特点 | 第56-58页 |
| 2.4.2 位置编码读出电子学需求 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 第3章:位置编码读出设计 | 第61-88页 |
| 3.1 感应编码读出设计 | 第62-69页 |
| 3.1.1 一维感应编码仿真 | 第62-65页 |
| 3.1.2 感应编码读出可行性验证设计 | 第65-67页 |
| 3.1.3 基于THGEM的一维分组感应编码设计 | 第67-68页 |
| 3.1.4 二维感应编码仿真与设计 | 第68-69页 |
| 3.2 直接编码读出设计 | 第69-74页 |
| 3.2.1 基于THGEM的一维直接编码设计 | 第70-72页 |
| 3.2.2 基于THGEM的二维直接编码读出设计 | 第72-74页 |
| 3.3 多通道准高斯信号发生器设计 | 第74-80页 |
| 3.3.1 设计实现 | 第74-78页 |
| 3.3.2 测试结果 | 第78-80页 |
| 3.4 位置编码读出电子学系统 | 第80-86页 |
| 3.4.1 读出电子学系统调研 | 第80-83页 |
| 3.4.2 基于GASTONE的数字式读出电子学系统 | 第83-84页 |
| 3.4.3 基于VATA160的模拟式读出电子学系统 | 第84-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 第4章:位置编码读出验证测试 | 第88-117页 |
| 4.1 测试需求与分析 | 第89-93页 |
| 4.1.1 测试需求 | 第89-91页 |
| 4.1.2 测试指标分析 | 第91-93页 |
| 4.2 一维感应编码读出测试 | 第93-100页 |
| 4.2.1 模拟击中测试 | 第93-95页 |
| 4.2.2 X射线验证测试 | 第95-100页 |
| 4.3 直接编码读出X射线验证测试 | 第100-114页 |
| 4.3.1 一维直接编码读出测试 | 第101-106页 |
| 4.3.2 二维直接编码读出测试 | 第106-114页 |
| 4.4 测试小结 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-117页 |
| 第5章:总结和展望 | 第117-120页 |
| 5.1 总结和展望 | 第118-119页 |
| 5.2 论文创新点 | 第119-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第122页 |
