基于红外成像技术的零值绝缘子检测
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 课题的主要研究工作 | 第14-15页 |
| 1.3.1 课题研究的主要目标、内容与方法 | 第14-15页 |
| 1.3.2 课题需解决的关键问题 | 第15页 |
| 1.4 论文的组织安排 | 第15-17页 |
| 第2章 绝缘子串红外图像预处理 | 第17-26页 |
| 2.1 绝缘子串电压分布分析 | 第17-18页 |
| 2.2 绝缘子串发热规律 | 第18页 |
| 2.3 红外测温原理 | 第18-19页 |
| 2.4 红外图像的特点 | 第19-20页 |
| 2.5 绝缘子串红外图像去噪 | 第20-22页 |
| 2.6 绝缘子串红外图像增强 | 第22-25页 |
| 2.6.1 下限阈值t_1的确定 | 第23页 |
| 2.6.2 上限阈值t_2的确定 | 第23-24页 |
| 2.6.3 线性分段变换 | 第24页 |
| 2.6.4 变换前后的图像及其灰度直方图 | 第24-25页 |
| 2.7 本章总结 | 第25-26页 |
| 第3章 绝缘子串红外图像分割 | 第26-33页 |
| 3.1 绝缘子串整体目标分割 | 第26-29页 |
| 3.1.1 基于改进二维Otsu算法的图像分割 | 第26-28页 |
| 3.1.2 形态学去除孤立像素点 | 第28-29页 |
| 3.2 绝缘子串边缘提取 | 第29-30页 |
| 3.3 绝缘子串红外图像角度校正 | 第30-32页 |
| 3.4 本章总结 | 第32-33页 |
| 第4章 单个绝缘子盘面的提取 | 第33-38页 |
| 4.1 绝缘子盘面椭圆曲线的拟合 | 第33-34页 |
| 4.2 单个绝缘子盘面提取 | 第34-37页 |
| 4.3 本章总结 | 第37-38页 |
| 第5章 基于支持向量机与温度特征的零值绝缘子识别 | 第38-51页 |
| 5.1 绝缘子温度特征提取 | 第38-44页 |
| 5.2 数据的规格化 | 第44-45页 |
| 5.3 支持向量机分类器设计 | 第45-48页 |
| 5.3.1 支持向量机理论基础 | 第45-47页 |
| 5.3.2 核函数的选择 | 第47-48页 |
| 5.4 支持向量机分类器有效性分析 | 第48-50页 |
| 5.5 本章总结 | 第50-51页 |
| 第6章 实验设计与结果验证 | 第51-59页 |
| 6.1 实验环境搭建 | 第51页 |
| 6.2 去噪算法的对比验证 | 第51-53页 |
| 6.3 增强算法的对比验证 | 第53-54页 |
| 6.4 图像角度校正算法对比验证 | 第54-56页 |
| 6.5 算法识别正确率统计与分析 | 第56-58页 |
| 6.6 本章总结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第65页 |
