线阵列探测器性能模拟与设计
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·论文工作背景 | 第7-8页 |
| ·探测器国内外发展现状 | 第8-10页 |
| ·论文主要内容 | 第10-11页 |
| 第二章 探测器性能理论分析 | 第11-24页 |
| ·辐射成像系统简介 | 第11-12页 |
| ·探测器相关理论 | 第12-23页 |
| ·探测器的种类和特点 | 第12-13页 |
| ·闪烁体材料概述 | 第13-14页 |
| ·闪烁晶体的选择 | 第14-19页 |
| ·卤化物闪烁体 | 第14-18页 |
| ·氧化物闪烁晶体 | 第18-19页 |
| ·探测器的物理机制 | 第19-23页 |
| ·光电效应 | 第19-20页 |
| ·康普顿效应 | 第20-22页 |
| ·电子对效应 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 探测器性能模拟计算 | 第24-40页 |
| ·蒙特卡罗方法介绍 | 第24页 |
| ·MonteCarlo计算程序 | 第24-25页 |
| ·MCNP计算程序简介 | 第25-26页 |
| ·MCNP模拟计算 | 第26-34页 |
| ·晶体的粒子探测效率随晶体长度变化的关系 | 第27-28页 |
| ·晶体的能量沉积率随晶体长度变化的关系 | 第28-29页 |
| ·晶体的有效沉积因子随晶体长度变化的关系 | 第29-30页 |
| ·关于晶体长度变化模拟结果的分析 | 第30页 |
| ·CdwO4晶体性能与入射光子能量变化的关系 | 第30-31页 |
| ·Nal晶体性能与入射光子能量变化的关系 | 第31-32页 |
| ·CS工晶体性能与入射光子能量变化的关系 | 第32-33页 |
| ·关于入射光子能量变化模拟结果的分析 | 第33-34页 |
| ·MCNP输入、输出文件处理 | 第34-39页 |
| ·批处理文件的编写 | 第34-36页 |
| ·脚本文件编写 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 探测器的模块化设计及测试 | 第40-56页 |
| ·数字系统硬件设计概述 | 第40页 |
| ·传统的系统硬件设计方法 | 第40页 |
| ·利用硬件描述语言的硬件电路设计方法 | 第40页 |
| ·探测器模块设计 | 第40-45页 |
| ·闪烁体、光电二级管模块 | 第40-43页 |
| ·AD转换芯片 | 第43-44页 |
| ·探测器数据采集系统设计方案 | 第44-45页 |
| ·探测器响应校正 | 第45-49页 |
| ·探测器像元校正方案 | 第46页 |
| ·校正模块设计 | 第46-49页 |
| ·探测器性能验证 | 第49-55页 |
| ·X-card模块调试 | 第50-53页 |
| ·AD转换芯片控制时序 | 第53-54页 |
| ·探测器响应校正算法验证 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 结束语 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-59页 |
